[发明专利]一种氮化镓基增强型异质结场效应晶体管有效
申请号: | 201410427708.5 | 申请日: | 2014-08-27 |
公开(公告)号: | CN104157679B | 公开(公告)日: | 2017-11-14 |
发明(设计)人: | 杜江锋;潘沛霖;陈南庭;于奇 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/808 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心51203 | 代理人: | 李明光 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 氮化 增强 型异质结 场效应 晶体管 | ||
1.一种氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,从下至上依次主要为衬底(101),氮化铝(AlN)成核缓冲层(102),氮化镓沟道层(103),势垒层(104)和绝缘介质层(105),在所述势垒层(104)上形成有源极(106)、漏极(107),在所述绝缘介质层(105)上表面设有栅极(108),所述源极(106)及漏极(107)均与所述势垒层(104)形成欧姆接触,所述栅极(108)与所述绝缘介质层(105)形成肖特基接触,其特征在于,在所述氮化铝(AlN)成核缓冲层(102)的上表面设有背势垒层(201);所述势垒层(104)所用材料的极化强度小于或等于所述背势垒层(201)所用材料的极化强度;所述背势垒层(201)的垂直轴线与栅极(108)的垂直轴线重合;所述的背势垒层(201)的长度Lbb满足0<Lbb<Lsd,其中Lsd为源漏距。
2.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的势垒层(104)的厚度Tbarrier和背势垒层(201)的厚度Tbackbarrier满足1nm≤Tbackbarrier≤Tbarrier≤100nm。
3.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的绝缘介质层(105)所用材料包括SiO2、Al2O3、Si3N4中的至少一种。
4.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的势垒层(104)和背势垒层(201)的材料均为铝铟镓氮AlxInyGazN,其中,x、y、z分别指铝铟镓氮中Al、In和Ga的摩尔百分比组分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。
5.根据权利要求4所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的铝铟镓氮AlxInyGazN的极化强度Psp(AlxInyGazN)可通过下式确定:
Psp(AlxInyGazN)=x·Psp(AlN)+y·Psp(InN)+z·Psp(GaN)
其中,Psp(AlN)、Psp(InN)、Psp(GaN)分别指AlN、InN、GaN的极化强度,其中,x、y、z分别指铝铟镓氮中Al、In和Ga的摩尔百分比组分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410427708.5/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种垂直环栅隧穿晶体管及其制备方法
- 下一篇:具有高开口率的像素结构及电路
- 同类专利
- 专利分类