[发明专利]一种氮化镓基增强型异质结场效应晶体管有效

专利信息
申请号: 201410427708.5 申请日: 2014-08-27
公开(公告)号: CN104157679B 公开(公告)日: 2017-11-14
发明(设计)人: 杜江锋;潘沛霖;陈南庭;于奇 申请(专利权)人: 电子科技大学
主分类号: H01L29/06 分类号: H01L29/06;H01L29/808
代理公司: 电子科技大学专利中心51203 代理人: 李明光
地址: 611731 四川省成*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 氮化 增强 型异质结 场效应 晶体管
【权利要求书】:

1.一种氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,从下至上依次主要为衬底(101),氮化铝(AlN)成核缓冲层(102),氮化镓沟道层(103),势垒层(104)和绝缘介质层(105),在所述势垒层(104)上形成有源极(106)、漏极(107),在所述绝缘介质层(105)上表面设有栅极(108),所述源极(106)及漏极(107)均与所述势垒层(104)形成欧姆接触,所述栅极(108)与所述绝缘介质层(105)形成肖特基接触,其特征在于,在所述氮化铝(AlN)成核缓冲层(102)的上表面设有背势垒层(201);所述势垒层(104)所用材料的极化强度小于或等于所述背势垒层(201)所用材料的极化强度;所述背势垒层(201)的垂直轴线与栅极(108)的垂直轴线重合;所述的背势垒层(201)的长度Lbb满足0<Lbb<Lsd,其中Lsd为源漏距。

2.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的势垒层(104)的厚度Tbarrier和背势垒层(201)的厚度Tbackbarrier满足1nm≤Tbackbarrier≤Tbarrier≤100nm。

3.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的绝缘介质层(105)所用材料包括SiO2、Al2O3、Si3N4中的至少一种。

4.根据权利要求1所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的势垒层(104)和背势垒层(201)的材料均为铝铟镓氮AlxInyGazN,其中,x、y、z分别指铝铟镓氮中Al、In和Ga的摩尔百分比组分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。

5.根据权利要求4所述的氮化镓基增强型异质结场效应晶体管,其特征在于,所述的铝铟镓氮AlxInyGazN的极化强度Psp(AlxInyGazN)可通过下式确定:

Psp(AlxInyGazN)=x·Psp(AlN)+y·Psp(InN)+z·Psp(GaN)

其中,Psp(AlN)、Psp(InN)、Psp(GaN)分别指AlN、InN、GaN的极化强度,其中,x、y、z分别指铝铟镓氮中Al、In和Ga的摩尔百分比组分含量,且x+y+z=1,0≤x≤1,0≤y≤1,0≤z≤1。

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