[发明专利]一种导体电阻及其电阻率测量装置

说明书

 

技术领域：

本发明涉及一种导体电阻及其电阻率测量装置，属于电力系统变电检修技术领域。

背景技术：

在电力设备交接和状态检修中，变压器、开关等导体回路的电阻与电阻率的测量是检测设备状态的有效手段，它可以发现设备是否存在设计和制造等缺陷，以次充好等问题。但目前对导体电阻和电阻率的测量仍采用传统方法即电流电压法进行测量，现场计算，工作量很大，且由于受到表计精度的影响和人员眼睛的误差，导致测量误差较大且工作效率很低。

发明内容：

本发明的目的在于克服上述已有技术的不足而提供一种大大降低了劳动强度，极大地降低了测量设备的重量和体积，单人即可完成,功能强大，可进行自动操作，可准确分析和判断变压器、开关导体的材质情况的导体电阻及其电阻率测量装置。

本发明的目的可以通过如下措施来达到：一种导体电阻及其电阻率测量装置，其特征在于其包括恒流源，恒流源连接AD采集模块，AD采集模块连接输入输出单元，AD采集模块包括单片机、取样电阻、被测导体、取样电阻AD采集模块、被测导体AD采集模块；取样电阻AD采集模块包括取样第一分压电阻、取样第二分压电阻、取样电阻比较放大器、取样电阻AD芯片；被测导体AD采集模块包括被测第一分压电阻、被测第二分压电阻、被测导体比较放大器、被测导体AD芯片；取样电阻分别连接恒流源及取样第一分压电阻、取样第二分压电阻，取样第一分压电阻、取样第二分压电阻连接取样电阻比较放大器，取样电阻比较放大器连接取样电阻AD芯片；被测导体分别连接恒流源及被测第一分压电阻、被测第二分压电阻，被测第一分压电阻、被测第二分压电阻连接被测导体比较放大器，被测导体比较放大器连接被测导体AD芯片，取样电阻AD芯片、被测导体AD芯片均分别与单片机连接。

为了进一步实现本发明的目的，所述的输入输出单元包括打印机、存储器、显示单元、按键，单片机分别连接打印机、存储器、显示单元、按键。

本发明同已有技术相比可产生如下积极效果：本发明采用一体化设计，大大降低了劳动强度，极大地降低了测量设备的重量和体积，单人即可完成测量，功能强大，可进行自动操作，可准确分析和判断变压器、开关导体的材质情况状况，更适合现场使用，使复杂繁琐的导体材质试验变得更简单便捷，大大提高了相关工作的效率，从而为及时发现变压器的缺陷、确保设备安全稳定运行奠定坚实的基础。

附图说明：

图1为本发明的结构框图；

图2 为AD采集模块的电路原理图。

具体实施方式：下面结合附图对本发明的最佳实施方式做详细说明：

实施例：一种导体电阻及其电阻率测量装置（参见图1-图2），其包括恒流源1、AD采集模块2以及输入输出单元3。AD采集模块2包括单片机2-1、取样电阻2-2、被测导体2-3、取样电阻AD采集模块2-4、被测导体AD采集模块2-5；取样电阻AD采集模块2-4包括取样第一分压电阻2-4-1、取样第二分压电阻2-4-2、取样电阻比较放大器2-4-3、取样电阻AD芯片（ICL7135）2-4-4；被测导体AD采集模块2-5包括被测第一分压电阻2-5-1、被测第二分压电阻2-5-2、被测导体比较放大器2-5-3、被测导体AD芯片（ICL7135）2-5-4。取样电阻2-2分别连接恒流源1及取样第一分压电阻2-4-1、取样第二分压电阻2-4-2，取样第一分压电阻2-4-1、取样第二分压电阻2-4-2连接取样电阻比较放大器2-4-3，取样电阻比较放大器2-4-3连接取样电阻AD芯片（ICL7135）2-4-4；被测导体2-3分别连接恒流源1及被测第一分压电阻2-5-1、被测第二分压电阻2-5-2，被测第一分压电阻2-5-1、被测第二分压电阻2-5-2连接被测导体比较放大器2-5-3，被测导体比较放大器2-5-3连接被测导体AD芯片（ICL7135）2-5-4。输入输出单元3包括热敏打印机3-1、存储器3-2、显示单元3-3、按键3-4，单片机2-1分别连接取样电阻AD芯片（ICL7135）2-4-4、被测导体AD芯片（ICL7135）2-5-4、热敏打印机3-1、存储器3-2、显示单元3-3、按键3-4。