[发明专利]一种视频处理芯片ADV212电性能筛选装置及方法有效
申请号: | 201410437555.2 | 申请日: | 2014-08-29 |
公开(公告)号: | CN104198915A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 郑敏;郑晓松;吴刚;马晓东;吴振国;于巍巍;李茹;张瑞菊 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28;G05B19/042 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心 11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 视频 处理 芯片 adv212 性能 筛选 装置 方法 | ||
1.一种视频处理芯片ADV212电性能筛选装置,其特征在于:包括筛选板、检测板、配套的互连电缆、温箱和电源;
所述筛选板为印制电路板,其上配置有FPGA、FPGA配置芯片、LVDS发送芯片,第一电连接器、插座和底座;上述全部元器件要求等级不低于普军级;所述FPGA配置管脚与FPGA配置芯片相连;待筛选视频处理芯片ADV212安装于插座内,插座固定安装于底座上,底座直接焊接于印制电路板上;待筛选视频处理芯片ADV212底座的管脚与FPGA的IO端口相连;LVDS发送芯片的信号输入管脚与FPGA的IO端口相连,LVDS发送芯片的信号输出管脚与第一电连接器相连;
检测板为印制电路板,其上配置有第二电连接器、LVDS接收芯片、指示器件;LVDS接收芯片的信号输入管脚与第二电连接器相连,LVDS发送芯片的信号输出管脚与指示器件相连;
筛选板置于温箱内,温箱控制筛选板的工作温度;检测板置于温箱外;第一电连接器通过配套的互连电缆与第二电连接器相连;电源用于给筛选板和检测板供电;
筛选板加电后,FPGA读取预先写入FPGA配置芯片的程序配置文件,并对待筛选视频处理芯片ADV212进行配置;配置过程结束后,FPGA通过IO端口将测试所用的图像数据发送给待筛选视频处理芯片ADV212,并接收待筛选视频处理芯片ADV212对测试图像数据压缩处理产生的码流;FPGA判断压缩码流的正确性,并将判断结果依次通过LVDS发送芯片、第一电连接器、互连电缆、第二电连接器、LVDS接收芯片发送给检测板上相应的指示器件,指示出相应的待筛选视频处理芯片ADV212是否工作正常。
2.根据权利要求1所述的一种视频处理芯片ADV212电性能筛选装置,其特征在于:所述FPGA判断压缩码流正确性的具体过程为:接收待筛选视频处理芯片ADV212输出的压缩码流,在待筛选视频处理芯片ADV212输出一帧图像的压缩码流过程中,第一次压缩码流的每一位与中间值的相应位各自进行异或,并将得到的异或值作为更新后的中间值,再与第二次压缩码流的每一位与中间值的相应位各自进行异或,直至本帧图像的所有压缩码流均执行上述操作后,得到最终的异或值即为用于比对判决的数据,所述中间值的初始值设为全零;筛选试验进行中,将持续得到的异或值与FPGA内事先写入的正确值进行比较,如果一致,则说明对应待筛选视频处理芯片ADV212的当前工作正常,反之则说明当前工作异常。
3.一种视频处理芯片ADV212电性能筛选装置的电性能筛选方法,其特征在于步骤如下:
1)对筛选板进行加电,FPGA读取预先写入FPGA配置芯片的程序配置文件,并对待筛选视频处理芯片ADV212进行配置;
2)关闭温箱门,设置温箱内温度为25℃;
3)打开检测板和筛选板的供电电源,根据检测板上的指示器件的指示信号,判断待筛选视频处理芯片ADV212的工作是否正常,随后断电;
4)将温箱升温至85℃,等待1小时后重复步骤3);
5)将温箱降温至-40℃,等待1小时后重复步骤3);
6)将温箱升温至85℃,等待1小时后打开检测板和筛选板的供电电源,根据检测板的指示信号,判断待筛选视频处理芯片ADV212的工作是否正常;保持85℃240小时,并实时观测指示信号,记录待筛选视频处理芯片ADV212的工作是否正常;
7)240小时后检测板和筛选板断电,温箱降温至-40℃,等待1小时后重复步骤3);
8)将温箱升温至常温25℃,等待1小时后重复步骤3),试验结束;
9)若步骤3)至步骤8)的任何一步中指示器件显示待筛选视频处理芯片ADV212工作不正常,则表示此片待筛选视频处理芯片ADV212未通过筛选,需要剔除。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所;,未经西安空间无线电技术研究所;许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410437555.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种印刷电路板的测试方法
- 下一篇:一种DTU的芯片引脚测试方法及电路