[发明专利]一种利用X-荧光光谱分析地质样品中主量元素的方法

权利要求书

1.一种利用X射线荧光光谱分析地质中主量元素的方法，其特征在于，包括如下步骤：

(1)样品的制备：将样品在100～110℃条件下烘2～2.5h，然后将标样或待测样品、混合熔剂以及NH₄NO₃混合，放置在铂金-金合金钳锅中，搅拌均匀，再向其中滴加脱模剂，置于熔样机上，在700～800℃中放置3～6min，然后升温至1100～1300℃，熔融5min，再摇动5min，静置1min后倒入模具内浇铸成玻璃熔片；

(2)标准曲线的制定：按照步骤的方法制备标准品，然后利用能量色散X-射线荧光光谱仪分析，制定校准曲线；

(3)测量条件：样品中的各种物质测量条件如下：

Mn、Ti、Fe：选择Kα线，管压75kV，管流8mA，二级靶用Ge，测量时间为250s；

Al、Si、K、Ca选择Kα线，管压40kV，管流15mA，二级靶用Ti，测量时间为250s；

Na、Mg：选择Kα线，管压25kV，管流24mA，二级靶用Al，测量时间为300s。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中所述的混合熔剂为Li₂B₄O₇与LiBO₂按照质量比为66:34混合的混合物。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中待测样品、混合熔剂和NH₄NO₃按照质量比为1:5:1的比例混合。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤(1)中所述的脱模剂为LiBr饱和溶液，每克样品添加量为200～300μL。