[发明专利]一种空间摆轴偏心位移的测量方法在审

专利信息
申请号: 201410442754.2 申请日: 2014-09-02
公开(公告)号: CN104265271A 公开(公告)日: 2015-01-07
发明(设计)人: 牛文铁;李帅 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: E21B47/024 分类号: E21B47/024
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 12201 代理人: 张金亭
地址: 300072 天*** 国省代码: 天津;12
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摘要:
搜索关键词: 一种 空间 摆轴 偏心 位移 测量方法
【权利要求书】:

1.一种空间摆轴偏心位移测量方法,其特征在于,采用以下步骤:

1)选定测量点M

在摆轴上选定测量点M,测量点M与支点N所在截面不重合,在测量点M所在的铅垂面内安装水平位移传感器和竖直位移传感器,使水平位移传感器的探头水平接触摆轴的外圆,使竖直位移传感器的探头铅垂接触摆轴的外圆;

2)建立坐标系并确定初始参数

建立坐标系:

在水平位移传感器和竖直位移传感器所在的铅垂面内,以测量点M初始位置处的摆轴截面圆心为坐标原点O建立一个直角坐标系O-xy,使水平位移传感器位于x轴,竖直位移传感器位于y轴;

确定初始参数:

设摆轴在测量点M处的截面半径为r;设测量点M到支点N的水平距离为a;设摆轴在测量点M处的截面外圆与x轴的交点为A,与y轴的交点为B;设水平位移传感器的初始读数为x1,竖直位移传感器的初始读数为y1

3)确定摆轴摆动后的参数

当摆轴在空间绕其支点N摆动一角度β后,测量点M处的摆轴截面圆心变为O1(m,n),摆轴在测量点M处的截面外圆与x轴的交点变为A1,与y轴交点变为B1;水平位移传感器的读数为x2,竖直位移传感器的读数为y2;测量点M的偏置位移矢量的大小为:

e=m2+n2]]>

其中:n=r+y2-y1±4(r+x2-x1)2r2(r+x2-x1)2+(r+y2-y1)2-(r+x2-x1)22;]]>

(r+x2-x1)2-(r+y2-y1)2+2n(r+y2-y1)2(r+x2-x1).]]>

4)确定摆轴的摆角β为:

β=arctan(ea).]]>

2.根据权利要求1所述的空间摆轴偏心位移测量方法,其特征在于:所述步骤2),使水平位移传感器位于x轴的正半轴,竖直位移传感器位于y轴的正半轴。

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