[发明专利]发光二极管响应特性的测试系统及方法

权利要求书

1.一种发光二极管响应特性的测试系统，其特征在于，包括：

计算机调制模块(1)，用于下发脉冲电压参数，并对接收到的光响应和电响应数据进行分析；

脉冲电压产生模块(2)，连接至所述计算机调制模块(1)，用于依照所述计算机调制模块(1)下发的脉冲电压参数，产生脉冲电压，并将该脉冲电压加载至待测试的发光二极管(3)；以及

数据采集模块(4)，用于采集待测试的发光二极管(3)的光响应和电响应数据，并将该光响应和电响应数据上传至所述计算机调制模块(1)；

其中，待测试的发光二极管(3)，连接至所述脉冲电压产生模块(2)，其在所述脉冲电压产生模块(2)产生的脉冲电压的驱动下发光。

2.根据权利要求1所述的测试系统，其特征在于，所述数据采集模块(4)包括：

采样电阻，与所述发光二极管(3)串联，其一端电性连接至发光二极管的输出端，另一端接地；

光电探测器，其响应波长与发光二极管发射光波长相匹配，其光学探头朝向所述发光二极管(3)的出光侧；以及

采样示波器，其时钟端口与所述脉冲电压产生模块(2)的时钟端口相连接，其第一输入端与所述光电探测器的信号输出端相连接，其第二输入端连接至所述发光二极管与采样电阻之间的电路节点，其信号输出端与计算机调制模块(1)相连接，用于实现对第一输入端和第二输入端输出信号的采样，并将采样产生的数据传送至计算机调制模块(1)。

3.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述的采样电阻为10Ω～100Ω的定值电阻。

4.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述发光二极管的发射光波长为380nm～700nm；所述光电探测器为响应波长为350nm～750nm的光电倍增管。

5.根据权利要求2所述的测试系统，其特征在于，所述采样示波器为单线示波器加转换开关、双线/多线示波器及双踪/多踪示波器中的任意一种；

该采样示波器通过USB数据传输线连接至所述计算机调制模块(1)，以将待测试的发光二极管(3)的光响应和电响应数据上传至所述计算机调制模块(1)。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述脉冲电压产生模块(2)由能够产生可调脉冲电压的电脉冲产生器组成；

该电脉冲产生器所产生的脉冲电压的强度、频率、波形及脉宽由所述计算机调制模块(1)下发的脉冲电压参数决定。

7.根据权利要求6所述的测试系统，其特征在于，所述计算机调制模块(1)通过USB数据传输线连接至所述电脉冲产生器，以下发所述的脉冲电压参数。

8.根据权利要求1至5中任一项所述的测试系统，其特征在于，所述发光二极管为无机电致发光二极管LED或有机电致发光二极管OLED。

9.根据权利要求8所述的测试系统，其特征在于，所述发光二极管为有机电致发光二极管OLED，其组成为依次沉积的ITO/MoO₃/NPB/Alq₃/BCP/Alq₃/LiF/Al；

其中，ITO为导电玻璃，MoO₃为空穴注入层，NPB为空穴传输层，毗邻NPB的Alq₃为发光层，BCP为空穴阻挡层，毗邻LiF的Alq₃的为电子传输层，LiF为电子注入层，Al为阴极。

10.一种利用权利要求2至5中任一项所述测试系统进行发光二极管响应特性测试的方法，其特征在于，包括：

步骤A：搭建测试系统并调节光路，使得待测试发光二极管(3)发射的光可以被数据采集模块(4)中的光电探测器采集；

步骤B：设置计算机调制模块(1)输出指令，调制脉冲电压产生模块(2)产生具有一定波形、频率、强度、脉宽或连续变化的脉冲电压；

步骤C：脉冲电压产生模块(2)接收计算机调制模块(1)的脉冲电压输出调制指令，并按计算机调制模块(1)的指令输出相应脉冲电压，输出的脉冲电压加载到发光二极管(3)，同时脉冲电压的时钟信息被数据采集模块(4)中的采样示波器采集记录作为校准曲线；

步骤D：发光二极管(3)受脉冲电压产生模块(2)输出的脉冲电压驱动发光，并使电路中产生具有一定波形的电流；

步骤E：数据采集模块(4)中的光电探测器采集发光二极管(3)发射出光信号，得到所述发光二极管的光信号响应数据，并输入到采样示波器；同时，采样示波器采集采样电阻两端分压，得到所述发光二极管的电响应数据；采样示波器将采集到的光信号响应数据和电响应数据实时输入到计算机调制模块(1)；以及

步骤F：计算机调制模块(1)对应采样示波器的输出数据实时记录并处理分析，得到发光二极管(3)的光响应及电响应特性。