[发明专利]借助两点迪克松技术进行磁共振测量的方法和磁共振设备

权利要求书

1.一种用于在第一回波时间(21)和第二回波时间(22)借助两点迪克松技术对检查对象(101)的第一谱分量(35)和第二谱分量(36)进行磁共振测量的方法，

其中，预先给出的两点迪克松技术的谱模型包括：第一谱分量(35)、第二谱分量(36)、在第一回波时间(21)的相位以及由于场不均匀性和/或在第一回波时间(21)和第二回波时间(22)之间的涡流效应的相位演变(Φ)，并且

其中，所述方法包括以下步骤：

-分别在第一回波时间(21)和在第二回波时间(22)对多个图像点(30，30-1，30-2)采集MR数据(25)，

-确定与所述MR数据(25)相比更低分辨率的计算格栅，其中所述计算格栅的每个格栅点(40)包含MR数据(25)的预先给出的数量的相邻的图像点(30，30-1，30-2)，

-对于所述MR数据(25)的每个图像点(30，30-1，30-2)：执行数值优化，其确定在第一回波时间(21)的优化的相位和/或优化的相位演变(Φ)，

其中，所述优化基于假定：在第一回波时间(21)的相位和/或相位演变(Φ)对于由计算格栅的一个格栅点(40)所包含的所有图像点(30，30-1，30-2)是恒定的，

-基于通过所述优化确定的在第一回波时间(21)的相位和/或相位演变(Φ)，对所述第一谱分量(35)和第二谱分量(36)进行解析计算。

2.根据权利要求1所述的方法，

其中，优化所基于的等式不具有与所述第一和第二谱分量(35，36)的显性依赖关系，不具有显性依赖关系意味着，等式对第一谱分量和第二谱分量之一求偏导数得出零。

3.根据权利要求2所述的方法，

其中，所述等式基于谱模型通过所述第一谱分量(35)和第二谱分量(36)的实值的权重(F，W)的变量投影来描述。

4.根据上述权利要求中任一项所述的方法，

其中，所述计算格栅的确定还包含根据用户输入和/或根据磁共振设备(100)的机器参数确定MR数据(25)的预先给出数量的相邻的图像点(30，30-1，30-2)，所述图像点由一个格栅点(40)包含。

5.根据上述权利要求1-3中任一项所述的方法，

其中，只要相位演变(Φ)被数值地优化了，优化所基于的等式就考虑了，在第一回波时间(21)的相位对于由计算格栅的一个格栅点(40)包含的图像点(30，30-1，30-2)是变化的，并且

其中，只要在第一回波时间(21)的相位被数值地优化了，所述等式就考虑了，相位演变(Φ)对于由计算格栅的一个格栅点(40)所包含的图像点(30，30-1，30-2)是变化的。

6.根据上述权利要求1-3中任一项所述的方法，

其中，所述第一和第二谱分量(35，36)的计算还包括：

-在计算格栅的相邻的格栅点(40)之间插值在第一回波时间(21)的相位和/或相位演变(Φ)，其中，所述第一谱分量(35)和第二谱分量(36)的确定基于在第一回波时间(21)的插值的相位和/或插值的相位演变(Φ)。

7.根据上述权利要求1-3中任一项所述的方法，

其中，所述优化是卡方优化。