[发明专利]基于扫描电镜和能谱分析的电触头材料电弧侵蚀程度测试在审
| 申请号： | 201410449237.8 | 申请日： | 2014-09-04 |
| 公开（公告）号： | CN104198258A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 王珩;李素华;刘立强;翁桅;柏小平;林万焕 | 申请（专利权）人： | 福达合金材料股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N1/32 | 分类号： | G01N1/32;G01N23/203 |
| 代理公司： | 温州瓯越专利代理有限公司 33211 | 代理人： | 陈加利 |
| 地址： | 325000 浙江省温州市*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 基于 扫描电镜 谱分析 电触头 材料 电弧 侵蚀 程度 测试 | ||
1.一种基于扫描电镜和能谱分析的电触头材料电弧侵蚀程度测试方法，其特征在于：将通过电弧侵蚀后电触头沿垂直于工作面剖开，制备金相试样后置于扫描电镜样品台，扫描电镜以背散射模式观察得到电弧侵蚀直径D和电弧侵蚀深度H，以表达式为D2·H来数值化标准铆钉型电触头材料电弧侵蚀程度，然后对金相试样进行能谱分析，该能谱分析以背散射模式进行，定性和定量分析金相试样的组分分布。
2.根据权利要求1所述的一种基于扫描电镜和能谱分析的电触头材料电弧侵蚀程度测试方法，其特征在于：剖开电触头材料的距离为工作面边缘到中心1/3-1/2处。
3.根据权利要求1所述的一种基于扫描电镜和能谱分析的电触头材料电弧侵蚀程度测试方法，其特征在于：制备金相试样是通过金相试样镶嵌成型在镶嵌机上进行，使用热固性胶木粉作为镶嵌材料，剖开后铆钉置于镶嵌机中，加入胶木粉超过试样高度，在0.1MPa-1.0MPa加热至130-180℃保温10-30分钟即可成型。
4.根据权利要求4所述的一种基于扫描电镜和能谱分析的铆钉型电触头材料电弧侵蚀程度测试方法，其特征在于：金相试样成型后用手工在砂纸上磨制，之后在预磨机上磨制，最后在抛光机上抛光，使用氧化铝作为抛光粉，其粒度为1-5μm。
5.根据权利要求1所述的一种基于扫描电镜和能谱分析的电触头材料电弧侵蚀程度测试方法，其特征在于：所述的电触头为铆钉型电触头，其工作面直径为2-25mm，高度为2-15mm。
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