[发明专利]一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法和测量具

权利要求书

1.一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法，所述栅极组件包括屏栅极和加速栅极，其特征在于，该方法所用测量具由一组检测段长度不同的台阶轴式塞规(1)组成；所述台阶轴式塞规(1)采用导电金属材料制成，所述台阶轴式塞规中的台阶将台阶轴式塞规分为手柄段和检测段，检测段直径大于加速栅极(3)孔径，且小于屏栅极(2)孔径；手柄段直径大于屏栅极孔径；

进一步的，一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法，包括如下步骤：

依次将各个规格的台阶轴式塞规插入屏栅极孔中；每插入一个台阶轴式塞规，通过台阶轴式塞规的前端面是否接触到加速栅极来确定被测栅极组件的栅间距；

所述台阶轴式塞规的前端面是否接触到加速栅极的判断方法为采用万用表检测屏栅极与加速栅极是否电导通。

2.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，手柄段直径比屏栅极孔径大0.5mm～0.8mm。

3.如权利要求1所述的测量方法，其特征在于，一组台阶轴式塞规的检测段长度范围为0.80mm～2.00mm，每隔0.01mm一个规格。

4.根据权利要求1所述的测量方法，其特征在于：所述一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法中，对于接触到加速栅极的台阶轴式塞规，将该台阶轴式塞规检测段的长度减去屏栅极厚度t，通过多个长度的台阶轴式塞规检测，取得检测点处的测量结果。

5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于：所述一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法中，按照检测段从短到长的顺序，依次将各个规格的台阶轴式塞规插入屏栅极孔中；将首次接触到加速栅极的台阶轴式塞规的检测段长度减去屏栅极厚度t，即为检测点处的栅间距。

6.根据权利要求5所述的测量方法，其特征在于：所述一种用于离子推力器栅极组件的栅间距测量方法中，万用表设置为电阻检测的蜂鸣档，如果台阶轴式塞规的前端面接触到加速栅极，则两个栅极通过台阶轴式塞规短路，万用表蜂鸣。