[发明专利]源无关量子随机数的产生方法及装置有效
申请号: | 201410449817.7 | 申请日: | 2014-09-04 |
公开(公告)号: | CN104238996B | 公开(公告)日: | 2017-08-11 |
发明(设计)人: | 马雄峰;曹竹;袁骁 | 申请(专利权)人: | 清华大学 |
主分类号: | G06F7/58 | 分类号: | G06F7/58 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙)11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100084 北京*** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 无关 量子 随机数 产生 方法 装置 | ||
1.一种源无关量子随机数的产生方法,其特征在于,包括以下步骤:
接收端接收源发射的光子信号,并将所述光子信号中包含的多光子信号转化为等价的单光子信号;
对所述单光子信号进行X基矢或Z基矢调制,并对所述X基矢或Z基矢进行投影测量;
根据所述Z基矢的测量结果计算所述源的错误率,具体包括:判断所述Z基矢的测量结果是否均为0,记录测量结果,并根据记录的测量结果计算错误率,所述错误率为测量结果为1的测量个数除以测量总个数;
根据所述X基矢的测量结果得到部分随机的二进制串;
获取所述部分随机的二进制串的最小熵,并进行后处理以得到完全随机的二进制串。
2.根据权利要求1所述的源无关量子随机数的产生方法,其特征在于,所述源为不被信任的源。
3.根据权利要求1所述的源无关量子随机数的产生方法,其特征在于,所述接收端包括两个单光子探测器。
4.根据权利要求1所述的源无关量子随机数的产生方法,其特征在于,在合法的测量事件中,所述Z基矢的测量个数为一个与测量总个数无关的常数,以使当输出串足够长时,Z基矢测量个数相对X基矢测量个数的比例趋于0。
5.一种源无关量子随机数的产生装置,其特征在于,包括:
用于发射光子信号的源;
接收端,所述接收端用于接收所述源发射的光子信号,并将所述光子信号中包含的多光子信号转化为等价的单光子信号,并对所述单光子信号进行X基矢或Z基矢调制,并对所述X基矢或Z基矢进行投影测量;
处理器,所述处理器根据所述Z基矢的测量结果计算所述源的错误率,并根据X基矢的测量结果得到部分随机的二进制串,并获取所述部分随机的二进制串的最小熵,并进行或处理以得到完全随机的二进制串,其中,所述处理器用于判断所述Z基矢的测量结果是否均为0,并记录测量结果,并根据记录的测量结果计算错误率,所述错误率为测量结果为1的测量个数除以测量总个数。
6.根据权利要求5所述的源无关量子随机数的产生装置,其特征在于,所述源为不被信任的源。
7.根据权利要求5所述的源无关量子随机数的产生装置,其特征在于,所述接收端包括:
偏振调制器,所述偏振调制器用于对所述单光子信号进行X基矢或Z基矢调制;
偏振分光计,所述偏振分光计用于对所述X基矢或Z基矢单光子信号进行投影;
两个单光子探测器,所述两个单光子探测器用于对所述X基矢或Z基矢进行投影测量。
8.根据权利要求5所述的源无关量子随机数的产生装置,其特征在于,在合法的测量事件中,所述Z基矢的测量个数为一个与测量总个数无关的常数,以使当输出串足够长时,Z基矢测量个数相对X基矢测量个数的比例趋于0。
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