[发明专利]实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法和测试系统

权利要求书

1.一种实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特征在于，包括如下步骤：

1)PG图像发生器(1)根据MIPI模组(5)的类型设置寄存器配置参数和图像数据，并将寄存器配置参数发送至MCU(2)，将图像数据通过LVDS数据总线接口发送至FPGA(3)；

2)所述MCU(2)根据寄存器配置参数产生DCS指令并发送至FPGA(3)；

3)所述FPGA(3)通过LVDS数据总线接口接收图像数据，再将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片(4)；

4)所述桥接芯片(4)发送DCS指令配置MIPI模组(5)，并将图像数据转化为MIPI信号后传送至MIPI模组(5)，所述MIPI模组(5)根据MIPI信号显示图像数据，测试完成。

2.根据权利要求1所述的实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特征在于：所述步骤4)之后还包括Vcom调节测试步骤：所述MCU(2)通过FPGA(3)向桥接芯片(4)转发DCS指令调节MIPI模组(5)的Vcom寄存器参数，使屏幕闪烁度最小。

3.根据权利要求1所述的实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特征在于：所述步骤4)之后还包括MTP烧录步骤：所述MCU(2)将MIPI模组(5)的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数转化为DCS指令并通过FPGA(3)发送至桥接芯片(4)，所述桥接芯片(4)根据DCS指令将所接收的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数发送至MIPI模组(5)，并按模组烧录流程烧录至MIPI模组(5)的OTP区域。

4.根据权利要求3所述的实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法，其特征在于：所述MTP烧录步骤之后还包括读取模组ID步骤：所述MCU(2)通过FPGA(3)向桥接芯片(4)转发DCS指令读取MIPI模组(5)的OTP区域的模组ID、Gamma参数、Vcom参数和Power参数并一一与设定值相比较，如果相同，测试结束；如果不同，重复MTP烧录步骤。

5.一种用于上述实现COMMAND模式的MIPI模组测试方法的测试系统，其特征在于：包括PG图像发生器(1)、MCU(2)和FPGA(3)，所述PG图像发生器(1)分别与MCU(2)和FPGA(3)连接，所述MCU(2)与FPGA(3)通过EBI接口连接，所述FPGA(3)通过桥接芯片(4)与MIPI模组(5)连接，

所述PG图像发生器(1)用于设置寄存器配置参数和图像数据；

所述MCU(2)用于将从PG图像发生器(1)接收的寄存器配置参数转化为DCS指令发送至FPGA(3)；

所述FPGA(3)用于将从PG图像发生器(1)接收的图像数据与DCS指令打包后发送至桥接芯片(4)。

6.根据权利要求5所述的实现COMMAND模式的MIPI模组测试系统，其特征在于：所述FPGA(3)包括EBI模块(3-1)、数据处理模块(3-2)和时序接口电路(3-3)，所述EBI模块(3-1)将从MCU(2)接收的DCS指令发送至时序接口电路(3-2)，所述数据处理模块(3-2)将从PG图像发生器(1)接收的图像数据发送至时序接口电路(3-3)，所述时序接口电路(3-3)将DCS指令与图像数据打包后发送至桥接芯片(4)。