[发明专利]光电探测器检测发光二极管响应时间装置及检测方法

权利要求书

1.一种光电探测器检测发光二极管响应时间装置，其组成包括：光电探测器，其特征是：所述的光电探测器一端与偏压连接，所述的光电探测器另一端与负载连接，所述的光电探测器与负载之间接入毫伏表，所述的光电探测器、所述的负载、所述的毫伏表分别与示波器连接，所述的示波器分别与信号发生器和电阻一端连接，所述的电阻另一端与发光二极管连接。

2.一种利用权利要求1所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是：测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间，录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间，最后根据表A和表B绘制偏置电压和偏置电阻分别与二极管响应时间关系图，从而得出二极管响应时间与不同时段的偏置电压和偏执电阻的趋势。

3.根据权利要求2所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是：所述的测量偏压下不同负载时其响应时间负载下部筒偏压时其响应时间：首先将试验箱面板上的偏压和负载分别选通一组，然后将波形选择开关拨至脉冲挡，光电探测器开关拨至光电二极管挡，此时在输入波形的二极管处应可观测到方波，由输出处引出的输出线即可得到光电二极管的输出波形，其频率通过频率调节处的方法旋钮来调节，然后按照要求分别测量偏压下不同负载时其响应时间一定负载下部筒偏压时其响应时间。

4.根据权利要求2或3所述的光电探测器检测发光二极管响应时间装置检测发光二极管响应时间的方法，其特征是：所述的同偏置电压下二极管的响应时间，记录偏置电阻时脉冲响应时间是，负载10千欧，选择偏置电压0V、5V、10V、15V，观察记录在不同偏置电压下二极管的响应时间，记录成表A；在偏置电压为15V时，选择0K、1K、10K、50K、100K的偏置电阻时脉冲响应时间，记录成表B。