[发明专利]地层元素测井仪器解谱分析确定产额的方法在审

专利信息
申请号: 201410453182.8 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN104239710A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 石文夫;张政彬;谭红建 申请(专利权)人: 西安奥华电子仪器有限责任公司
主分类号: G06F19/00 分类号: G06F19/00;G01N33/24
代理公司: 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 代理人: 王少文
地址: 710061 陕西省西*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 地层 元素 测井 仪器 谱分析 确定 方法
【权利要求书】:

1.一种地层元素测井仪器解谱分析确定产额的方法,其特征在于:包括以下步骤:

1)确定段区数n及各区段左右边界kn和kn+1;所述kn和kn+1分别表示第n个段区的左右边界;n为不大于256的整数

2)计算标准俘获谱归一化响应矩阵A

响应矩阵A的计算方法如下;

设aij是响应矩阵A的(i,j)元,即A的第i行第j列的元素;

aij=Σk=knkn+1Nkj;]]>

kn和kn+1分别表示第n个段区的左右边界,Nkj是准谱归一化之后的第k道的计数;

3)计算待解谱在各段区总计数值ci

设在实际测量中得到的256道γ能谱的第i道计数为ci

ci=Σk=knkn+1NkM,n=1,2,...n,]]>

其中,kn和kn+1分别表示第n个段区的左右边界,NkM是实测地层谱归一化后的第k道计数;

4)计算对角加权矩阵W

设对角加权阵为W,wii是W的(i,i)元,令权系数wi=wii,则

wii=wi=1ci2]]>

则:

W=w110000w220000···0000wnn]]>

5)计算加权最小二乘法解谱得产额yj

地层测量谱的第i道的计数可以表示为,地层中所有元素在第i道内产生的γ射线即标准谱的线性叠加;

ci=Σj=1maijyj+ϵi,i=1,2,3......m,]]>

即叠加的系数为该地层中元素的产额;

其中aij是由元素的标准谱得到的m×m,的响应矩阵A的(i,j)元,yj表示第j种元素的百分含量,即产额,εi表示误差,m为元素总数,m,为总道数,采用加权最小二乘法求解,得:

y=[ATWA]-1[ATWC]

其中C=(c1,c2,....cn)T,y=(y1,y2,...ym);

6)利用残差平方和的平均数Δ2判定拟合效果;

设残差平方和的平均数为

Δ2=1nΣi=1n(ci-Σj=1maijyj)2]]>

若确定的精度Δ2<ε,则满足要求,否则返回步骤1)重新进行解谱。

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