[发明专利]芯片的调试系统、调试方法和调试装置有效

专利信息
申请号: 201410453793.2 申请日: 2014-09-05
公开(公告)号: CN104239175A 公开(公告)日: 2014-12-24
发明(设计)人: 肖勇;王少亮;赵明洋 申请(专利权)人: 硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司
主分类号: G06F11/26 分类号: G06F11/26
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴贵明;张永明
地址: 100086 北京市海淀*** 国省代码: 北京;11
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 芯片 调试 系统 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种芯片的调试系统,其特征在于,包括:

芯片,所述芯片包括第一控制器;

第二控制器,所述第二控制器包括第一接口,所述第一接口与所述芯片连接,所述第二控制器用于将计算机的第一调试命令转换为所述芯片支持的格式得到第二调试命令,并将所述第二调试命令发送给所述芯片,和/或将所述芯片对于所述第二调试命令的响应发送给所述计算机;

所述计算机,所述计算机通过所述计算机的串口与所述第二控制器的第二接口连接,所述计算机用于发送所述第一调试命令和/或接收所述芯片对于所述第二调试命令的响应。

2.根据权利要求1所述的调试系统,其特征在于,所述调试系统还包括:

二选一开关,与所述第二控制器的第三接口和所述第二接口连接,所述二选一开关与所述第一控制器的数据传输接口连接,所述二选一开关与所述计算机的所述串口连接,所述二选一开关用于通过所述第二控制器的所述第三接口接收所述计算机的控制命令,

其中,所述控制命令用于将所述第一控制器或所述第二控制器与所述计算机连接。

3.根据权利要求2所述的调试系统,其特征在于,所述第二控制器的所述第二接口包括:

接口接收端,所述接口接收端与所述计算机的所述串口的串口发送端连接,用于接收所述计算机的所述第一调试命令和/或所述控制命令;

接口发送端,所述接口发送端与所述二选一开关连接,用于将所述芯片对于所述第二调试命令的响应发送给所述计算机,

其中,所述第二调试命令用于对所述芯片执行调试操作。

4.根据权利要求2所述的调试系统,其特征在于,所述第一控制器的所述数据传输接口为输入/输出接口,所述第一控制器的所述数据传输接口通过所述二选一开关与所述计算机的所述串口的串口接收端连接,所述第一控制器的所述数据传输接口用于发送所述第一控制器的程序运行状态数据,其中,所述程序运行状态数据为所述第一控制器内安装的程序生成的程序运行状态数据。

5.根据权利要求4所述的调试系统,其特征在于,所述计算机包括:

比较器,与所述第一控制器和所述第二控制器连接,所述比较器用于比较所述芯片对于所述第二调试命令的响应和所述程序运行状态数据,以确定所述芯片是否发生故障。

6.一种芯片的调试方法,应用于权利要求1至5中任一项的所述调试系统中,其特征在于,包括:

接收来自计算机的第一调试命令,其中,所述第一调试命令用于对芯片执行调试操作;

将所述第一调试命令转换为所述芯片支持的格式得到第二调试命令;

按照所述第二调试命令对所述芯片执行所述调试操作,并获取所述芯片对于所述第二调试命令的响应。

7.根据权利要求6所述的调试方法,其特征在于,所述调试方法还包括:

接收所述第一控制器的程序运行状态数据,其中,所述程序运行状态数据为所述第一控制器内安装的程序生成的程序运行状态数据;

根据所述程序运行状态数据和所述芯片对于所述第二调试命令的响应判断所述芯片是否发生故障。

8.根据权利要求7所述的调试方法,其特征在于,根据所述程序运行状态数据和所述芯片对于所述第二调试命令的响应判断所述芯片是否发生故障包括:

判断所述程序运行状态数据和所述芯片对于所述第二调试命令的响应是否一致;

在所述程序运行状态数据和所述芯片对于所述第二调试命令的响应一致的情况下,则判断出所述芯片没有发生故障;

在所述程序运行状态数据和所述芯片对于所述第二调试命令的响应不一致的情况下,则判断出所述芯片发生故障。

9.根据权利要求6所述的调试方法,其特征在于,在将所述第一调试命令转换为所述芯片支持的格式得到第二调试命令之后,所述调试方法还包括:

将返回值发送至所述计算机,其中,所述返回值表示所述第一调试命令已转换完成。

10.一种芯片的调试装置,其特征在于,包括:

接收模块,用于接收来自计算机的第一调试命令,其中,所述第一调试命令用于对芯片执行调试操作;

转换模块,用于将所述第一调试命令转换为所述芯片支持的格式得到第二调试命令;

执行模块,用于按照所述第二调试命令对所述芯片执行所述调试操作,并获取所述芯片对于所述第二调试命令的响应。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司,未经硅谷数模半导体(北京)有限公司;硅谷数模国际有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410453793.2/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top