[发明专利]一种实现太阳磁场望远镜透过轮廓的在轨调试系统及方法

权利要求书

1.一种实现太阳磁场望远镜透过轮廓的在轨调试系统，其特征在于，包括：由望远系统、偏振分析器、滤光器依次连接组成的待测太阳磁场望远镜，以及由透镜组、光栅光谱仪、光电倍增管依次同轴排列设置的谱线轮廓调试系统，其中，在所述滤光器的输出端和透镜组的输入端之间连接有光纤束，所述滤光器包括至少一个晶体级，分别调整所述滤光器中的各晶体级方位，使得从待测太阳磁场望远镜中输出的光源经所述光纤束引光并依次通过所述透镜组成像、光栅光谱仪轮廓扫描以及光电倍增管的信号放大后输出的光谱线轮廓图在计算机中予以显示。

2.如权利要求1所述的一种实现太阳磁场望远镜透过轮廓的在轨调试系统，其特征在于，还包括有半导体激光器，所述半导体激光器连接至所述光纤束的输入端，用于谱线轮廓调试系统的光路调整。

3.如权利要求2所述的一种实现太阳磁场望远镜的透过轮廓的在轨调试系统，其特征在于，所述滤光器包括八个晶体级，各晶体级内设可旋转的用于改变入射光相位差的波片。

4.如权利要求3所述的一种实现太阳磁场望远镜的透过轮廓的在轨调试系统，其特征在于，所述透镜组由至少两片凸透镜组成。

5.一种根据前述权利要求1至4中任意一项所述的在轨调试系统的调试方法，其特征在于，包括如下步骤：

将光纤束的两端分别连接到待测太阳磁场望远镜中的滤光器的输出端及谱线轮廓调试系统中的透镜组的输入端；

调整谱线轮廓调试系统中的光栅光谱仪的透过波长，使其与待测太阳磁场望远镜的观测波长相同；

分别调整位于待测太阳磁场望远镜中的滤光器中的各晶体级方位，使其输出光强值为最大；

从待测太阳磁场望远镜中输出的光源经所述光纤束引光并通过谱线轮廓调试系统中的光栅光谱仪扫描及光电倍增管的放大后输出得到观测模式下的光谱轮廓图。

6.如权利要求5所述的调试方法，其特征在于，在将光纤束连接于光栅光谱仪与透镜组之间之前，先外接激光器作为调整光路的辅助光源，将光纤束输入端连接到激光器，另一端连接到透镜组，调整透镜组内各个凸透镜的位置使得光束入射到光栅光谱仪狭缝中，光束焦比为1/4。

7.如权利要求6所述的调试方法，其特征在于，所述滤光器包括八个晶体级，各晶体级可由电机控制其旋转角度，依次令每个晶体级内部的波片在垂直于光路的平面内旋转，观察输出光强，当输出光强值在设定波长上最大时停止旋转。

8.如权利要求7所述的调试方法，其特征在于，从晶体级透过带宽最大的晶体级开始旋转，依次重复调整，在调整完各个晶体级后，标定每个晶体级的位置。

9.如权利要求8所述的调试方法，其特征在于，在获得输出光谱轮廓图后，在按照同比例同时旋转待测太阳磁场望远镜滤光器中的各晶体级，观测滤光器透过轮廓的整体移动的谱线图。

10.如权利要求6-9任一所述的调试方法，其特征在于，所述调试在避光环境中进行。