[发明专利]可调测量距离的OTA测试暗室

说明书

技术领域：

本发明涉及一种可调测量距离的OTA测试暗室，它属于手机的天线OTA，既空中传输的测试装置技术领域。

背景技术：

OTA测试暗室是为了进行手机天线的空中传输参数测试而专门设计的装置。现有的OTA测试暗室，其测量天线为固定位置的。一旦天线暗室建设完毕，放置待测终端的测量转台和暗室的测量天线之间的距离就固定了。

但是今天的终端的支持通信制式越来越多，频率范围越来越宽,需要测量的频段越来越宽。举例来说，4G LTE(Long Term Evolution)的工作频段从700MHz到2.6GHz,WIFI有2.4GHz/5GHz工作频段，GPS是1.575GHz。因此，暗室需要具备从700MHz到5GHz的工作范围。而暗室支持的工作频段和暗室的损耗和测量距离(放置待测终端的测量转台和暗室测量天线之间的距离)密切相关。

例如:

700MHz的低频段，波长较长，需要的测量距离大，相同距离空间损耗小。

5GHz的高频段，波长较短，需要的测量距离小，相同距离的空间损耗大。

现有的OTA测试暗室，由于测量天线位置固定，为了工作频段能够覆盖所有需要的频段，暗室的测量距离必须按照暗室支持的最低频段来设定(即测量距离最长)。大的测量距离，带来的是大的path loss暗室空间损耗，尤其是工作在高频段的通信制式。在这些制式中，WIFI(5G)/LTE 2.6GHz的系统传导灵敏度本来就不高。WIFI在-75dBm左右，LTE 2.6GHz(50RB)在-99dBm左右。在这些高频段的测量中，空间损耗很大，而终端本身的传导灵敏度不高，而高频天线的方向性有很强(有些角度天线增益很好，另一些和角度天线增益很差)，因此在测试过程中，当暗室的测量转台转到待测终端天线增益很差的那些位置时候，测量很容易掉线。测量系统的效率和稳定性都降低。

发明内容：

本发明的目的在于提供一种结构简单，可以实现测试天线相对应于测试转台可以变换测试距离的可调测量距离的OTA测试暗室。

本发明的目的是这样实现的：

一种可调测量距离的OTA测试暗室，它包括测试暗室本体和设置在暗室本体中的测量转台以及暗室通信天线，其特征在于在所述的测试本体中设置有可变换位置的测量天线，所述的测量天线设置在一测量天线支架上。

所述的测量天线支架包括支脚，支撑杆，天线固定装置；所述的支脚位于支撑杆下端，所述的天线固定装置设置在支撑杆上。

在所述的支撑杆设置有多个天线固定装置固定孔位，所述的固定孔位分部在支撑杆上。

在所述的测试暗室本体中设置滑轨，所述的测量天线支架通过支脚支撑于滑轨之上。

在所述的测试暗室本体所设置的滑轨为燕尾槽结构的滑轨，所述的测量天线支架的支脚为与燕尾槽滑轨相嵌合的燕尾结构支脚。

在所述的测量暗室本体中设置有多个测量天线支架，所述的多个测量天线支架分别固定在对应测量转台的多个距离点上。

在所述的测量暗室本体中设置有1-20个测量天线支架，分别固定在对应于测量转台1-10米的距离点上。

本发明克服了现有技术的OTA测试暗室中的测量转台对应于测量天线的位置固定不变的缺陷，实现了测量天线的位置再测试暗室中的位置移动。因此，对于频段工作频率低，波长长，需要测量距离远的测量应用，可选择将测量天线移动测量距离比较大的位置。本发明可以动态的适应不同的工作频段对测量距离和空间损耗的要求，为每种工作频段和通信制式提供最为合适的测量距离，以确保测试的顺利进行并提供最稳定可靠的测试。

附图说明：

图1为本发明的结构示意图

图2为本发明实施例2的结构示意图

图3为本发明在完整的OTA测试系统中的应用示意图

图4为本发明的天线支架的结构示意图

具体实施方式：

下面结合附图1、图2、图3和图4，对本发明进行进一步的说明。

实施例1，如图1、图3和图4所示：

本发明是应用于手机天线OTA测试的测试暗室。

为了克服现有技术存在的问题，在本实施例中，本发明它包括测试暗室本体1和设置在暗室本体中的测量转台6以及暗室通信天线8，在所述的测试本体1中设置有可变换位置的测量天线2。本发明中的试暗室本体1和设置在暗室本体中的测量转台6以及暗室通信天线8均的结构、安装方式位置均与现有技术的相同。