[发明专利]金属钼材料的刻蚀方法在审
申请号: | 201410456704.X | 申请日: | 2014-09-09 |
公开(公告)号: | CN105470193A | 公开(公告)日: | 2016-04-06 |
发明(设计)人: | 周娜;蒋中伟 | 申请(专利权)人: | 北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/768 | 分类号: | H01L21/768 |
代理公司: | 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 | 代理人: | 张大威 |
地址: | 100176 北京市*** | 国省代码: | 北京;11 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 金属 材料 刻蚀 方法 | ||
1.一种金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,包括以下步骤:
在金属钼材料上形成刻蚀掩膜;
使用Cl2作为刻蚀气体,对所述金属钼材料进行刻蚀。
2.根据权利要求1所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,刻蚀过程中使用O2作为调节气体,其中,所述O2的气体流量占气体总流量的5%-10%。
3.根据权利要求1所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,所述刻蚀气体Cl2的流量为100-1000sccm。
4.根据权利要求3所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,所述刻蚀气体Cl2的流量为200-500sccm。
5.根据权利要求1所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,刻蚀过程中上电极功率为100-500W,下电极功率为20-200W。
6.根据权利要求5所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,所述上电极功率为300-500W,所述下电极功率为50-100W。
7.根据权利要求1所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,刻蚀过程中温度为10-60℃。
8.根据权利要求7所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,所述温度为20-40℃。
9.根据权利要求1所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,刻蚀过程中气体压为10-50mT。
10.根据权利要求2所述的金属钼材料的刻蚀方法,其特征在于,所述刻蚀气体Cl2的流量为200sccm,所述调节气体O2的流量为20sccm,上电极功率为300W,下电极功率为100W,温度为40℃,气体压为20mT。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司,未经北京北方微电子基地设备工艺研究中心有限责任公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410456704.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造