[发明专利]一种X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法在审
| 申请号： | 201410462090.6 | 申请日： | 2014-09-12 |
| 公开（公告）号： | CN104198513A | 公开（公告）日： | 2014-12-10 |
| 发明（设计）人： | 刘召贵;余正东;王俊鹏;李强;吴敏;姚栋樑 | 申请（专利权）人： | 江苏天瑞仪器股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N23/223 | 分类号： | G01N23/223 |
| 代理公司： | 无 | 代理人： | 无 |
| 地址： | 215347 江苏省苏州市昆*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 荧光 光谱 谷物 元素 快速 测定 方法 | ||
1.一种X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，包括：
步骤一、标准样品标准曲线制作：将一系列有标准含量梯度的镉谷物粉末，分别过目筛，装入样品杯并压实；
将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；
步骤二、待测样品处理：取一定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量的粉末制装入样品杯并压实，形成待测样品；
上机测试，进行含量计算。
2.根据权利要求1所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，步骤一中，所述目筛的目数大于等于40目。
3.根据权利要求1所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，步骤一中，测定公式为：
C=bI+a；
其中C代表待测样品含量，I代表待测样品的X荧光强度；
其中线性回归方程为：
。
4.根据权利要求1所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，步骤二中，所述装入样品杯中的粉末剂量与所述定量谷物之比小于1/5。
5.根据权利要求4所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，所述装入样品杯中的粉末剂量与所述定量谷物之比为1/10。
6.根据权利要求5所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，所述定量谷物为50克。
7.根据权利要求5所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，所述装入样品杯中的粉末剂量为5克。
8.根据权利要求1所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于，所述谷物为大米或小麦或玉米。
9.根据权利要求1所述的X荧光光谱法对谷物中镉元素的快速测定方法，其特征在于,步骤一中，所述标准样品的数量大于等于4。
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