[发明专利]编码器和使用编码器的装置有效
申请号: | 201410462553.9 | 申请日: | 2014-09-12 |
公开(公告)号: | CN104457805B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 名仓千裕 | 申请(专利权)人: | 佳能株式会社 |
主分类号: | G01D5/347 | 分类号: | G01D5/347 |
代理公司: | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所11038 | 代理人: | 宿小猛 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 编码器 使用 装置 | ||
1.一种编码器,其特征在于包括:
标尺(20A、20B、20C),设置有具有第一周期的第一周期图案和具有第二周期的第二周期图案,第二周期不同于第一周期;
传感器(10A、10B),能相对于标尺相对移动并且包含被配置为检测第一周期图案和第二周期图案的检测元件阵列(16A、16B);
周期信号产生器(40、41、42),被配置为(a)通过使用检测元件阵列检测第一周期图案的输出产生与第一周期图案的第一周期对应地改变的第一周期信号以及(b)通过使用检测元件阵列检测第二周期图案的输出产生与第二周期图案的第二周期对应地改变的第二周期信号;
校正信号产生器(40、43),被配置为通过使用第二周期信号产生用于减少第一周期信号中与第二周期图案的第二周期对应地改变的信号成分的校正信号;和
位置计算器(40、44~46),被配置为通过使用第一周期信号和校正信号产生指示位置的信息。
2.根据权利要求1的编码器,其中,校正信号与第二周期信号或与第二周期信号的谐波同步。
3.根据权利要求1的编码器,其中,校正信号产生器被配置为产生通过将第二周期信号乘以预定系数而获取的周期信号作为校正信号。
4.根据权利要求1的编码器,其中,校正信号产生器被配置为计算第二周期信号的相位,并且产生具有通过向计算的相位添加预定的偏移而获得的相位的周期信号作为校正信号。
5.根据权利要求1的编码器,其中,校正信号产生器被配置为获取与通过检测元件阵列检测的第一周期图案或第二周期图案的图像的空间频率相关的值,并且通过使用该值产生校正信号。
6.根据权利要求5的编码器,其中,
检测元件阵列被配置为通过检测元件阵列相对于标尺的相对移动输出周期彼此相等且相位相互不同的多个周期信号,并且,
校正信号产生器被配置为获取所述多个周期信号的相位差作为所述与空间频率相关的值。
7.根据权利要求5的编码器,其中,
检测元件阵列被配置为通过检测元件阵列相对于标尺的相对移动输出周期彼此相等且相位相互不同的多个周期信号,并且,
校正信号产生器被配置为获取通过所述多个周期信号的加减而获取的周期信号的振幅的比率作为所述与空间频率相关的值。
8.根据权利要求1的编码器,其中,构成检测元件阵列的检测元件中的至少一部分被共同使用以检测第一周期图案和第二周期图案。
9.根据权利要求1~8中的任一项的编码器,其中,传感器被配置为通过光学方法、磁方法和电容方法中的一种检测第一周期图案和第二周期图案。
10.一种装置,包括:
编码器;和
可动部件(50),通过使用编码器检测所述可动部件的位置,
其特征在于,编码器包括:
标尺(20A、20B、20C),设置有具有第一周期的第一周期图案和具有第二周期的第二周期图案,第二周期不同于第一周期;
传感器(10A、10B),能相对于标尺相对移动并且包含被配置为检测第一周期图案和第二周期图案的检测元件阵列(16A、16B);
周期信号产生器(40、41、42),被配置为(a)通过使用检测元件阵列检测第一周期图案的输出产生与第一周期图案的第一周期对应地改变的第一周期信号以及(b)通过使用检测元件阵列检测第二周期图案的输出产生与第二周期图案的第二周期对应地改变的第二周期信号;
校正信号产生器(40、43),被配置为通过使用第二周期信号产生用于减少第一周期信号中与第二周期图案的第二周期对应地改变的信号成分的校正信号;和
位置计算器(40、44~46),被配置为通过使用第一周期信号和校正信号产生指示位置的信息。
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