[发明专利]一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法

说明书

技术领域

本发明涉及食品安全，具体来说，涉及一种谷物重金属测定方法。

背景技术

随着中国的经济迅猛发展，由于多方面的原因，导致国家经济导向更注重数字经济，从而引发了大量的问题，而食品安全问题也日益严重。虽然国家在经济快速增长方面多有建树，但由于以往的粗放经济政策导致国内自然环境急剧恶化，大气污染、水污染、土壤污染也到了一个非常严重的程度，中国素有“民以食为天”的谚语，而土壤则是食品来源的重要根基，随着土壤污染的日益严重，从土壤中生长出的谷物也不可避免的带有各类污染元素，其中重金属污染则成为一个尤为突出的问题。

重金属在大气、水体、土壤、生物体中广泛分布，重金属不能被生物降解，但具有生物累积性，可以直接威胁高等生物包括人类，有关专家指出，重金属对土壤的污染具有不可逆转性，已受污染土壤没有治理价值，只能调整种植品种来加以回避。因此，重金属污染问题日益受到人们的重视。重金属可以被受污染的谷物吸收，进而进入人体，重金属对人体的伤害极大。常见的有： 汞：食入后直接沉入肝脏，对大脑、神经、视力破坏极大。天然水每升水中含0.01毫克，就会导致人中毒；铅：导致高血压，引起心脑血管疾病；破坏骨骼和肝肾，并引起肾衰竭；铅：是重金属污染中毒性较大的一种，一旦进入人体将很难排除。能直接伤害人的脑细胞，特别是胎儿的神经系统，可造成先天智力低下；钴：能对皮肤有放射性损伤；钒：伤人的心、肺，导致胆固醇代谢异常；锑：与砷能使银手饰变成砖红色，对皮肤有放射性损伤；铊：会使人多发性神经炎；锰：超量时会使人甲状腺机能亢进。也能伤害重要器官；砷：是砒霜的组分之一，有剧毒，会致人迅速死亡。长期接触少量，会导致慢性中毒。另外还有致癌性；这些重金属中任何一种都能引起人的头痛、头晕、失眠、健忘、神精错乱、关节疼痛、结石、癌症。因此，对食品重金属含量的检测尤为重要。

通常认可的重金属分析方法有：紫外可分光光度法（UV）、原子吸收法（AAS）、原子荧光法（AFS）、电感耦合等离子体法（ICP）、X荧光光谱（XRF）、电感耦合等离子质谱法（ICP-MS）。除上述方法外，更引入光谱法来进行检测，精密度更高，更为准确。

国标对于大米中铅元素的检测基本属于化学检测方法，需对样品进行酸处理，处理方法一般采用灰化法、微波消解法、湿法消解法等，操作繁琐，同时使用强酸、有大量酸气产生，整个样品处理时间长，至少2小时，费时费力。目前技术也有采用X荧光光谱（XRF）分析，优点是无损检测，可直接分析成品，但目前的检测精度和重复性不如光谱法，因此有必要对X荧光光谱的检测方法进行改进以得到更为精确的测试结果。

发明内容

有鉴于此，需要克服现有技术中的上述缺陷中的至少一个。本发明提供了一种X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法，包括：

步骤一、标准样品标准曲线制作：将一系列有标准含量梯度的铅谷物粉末，分别过目筛，装入样品杯并压实；

将系列标准样品上机扫描，获取已知含量标准样的X荧光强度，标定标准曲线；

步骤二、待测样品处理：取一定量谷物去皮，粉碎过目筛；取其与步骤一中等量的粉末制装入样品杯并压实，形成适合X荧光测试的待测样品；

上机测试，进行含量计算，提取未知样品的铅强度，仪器软件利用强度与含量的线性公式计算出铅的含量。

通过将制作使用目筛或其他均匀粉末制备标准样品的标准曲线，可以使得在制作标准样品的标准曲线比仅仅使用粉末获得的精度更加准确，从而保证了之后测定的高精度，而待测样品使用目筛得到的待测样品粉末也能够保证测试的高精确性，单纯使用一般的粉末还是难以避免测试的不规则和不均匀性，使得测试结果存在较大的随机性。

根据本发明背景技术中对现有技术所述，也有采用X荧光光谱（XRF）分析，优点是无损检测，可直接分析成品，但目前的检测精度和重复性不如光谱法；而本发明提供的X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法，通过标准方法可以优化目前的检测精度和重复性，保证了测试结果的高精确性和好的规则性以及好的均匀性，同时还具有处理方法简单，仅使用锤式旋风磨对样品进行粉碎过筛处理即可，时间短，样品前处理仅需2min，仪器测试简单，一键化操作即可以及无仪器环保无任何废弃耗材。

另外，根据本发明公开的X荧光光谱法对谷物中铅元素的快速测定方法还具有如下附加技术特征：

进一步地，步骤一中，所述目筛的目数大于等于40目。