[发明专利]换热设备在线清洗装置有效
申请号: | 201410470715.3 | 申请日: | 2014-09-18 |
公开(公告)号: | CN104197846A | 公开(公告)日: | 2014-12-10 |
发明(设计)人: | 赵文川;李璐璐;范斌 | 申请(专利权)人: | 中国科学院光电技术研究所 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G06F19/00 |
代理公司: | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 | 代理人: | 杨学明;顾炜 |
地址: | 610209 *** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 设备 在线 清洗 装置 | ||
1.一种基于特征图样反射的反射镜位移测量方法,其特征在于:测量系统包括CCD摄像机、显示屏和计算机;首先进行摄像机标定,得到摄像机的内参数;再由计算机产生特征图样,并显示在显示屏上,并投影到反射镜上,经反射后被摄像机所记录;CCD拍摄记录下反射回来的特征图样,即CCD拍摄记录下显示屏由反射镜形成的虚像;当反射镜发生移动时,该虚像相对于摄像机也会发生移动;通过对摄像机外参数标定,得到反射镜移动前后虚像相对于摄像机的位置,进而计算出虚像的移动距离;再根据光线反射定律可知,反射镜的移动距离是其虚像移动距离的一半,从而得到反射镜的位移。
2.根据权利要求1所述的反射镜位移测量方法,其特征在于:通过摄像机标定得到其内参数,采用考虑了像差的非线性模型。
3.根据权利要求1所述的反射镜位移测量方法,其特征在于:其是二维正弦条纹图样、棋盘格图样或高斯点阵图样。
4.根据权利要求1所述的反射镜位移测量方法,其特征在于:对摄像机外参数标定为提取记录图像中的特征点像素位置,通过摄像机标定计算得到相对于虚像的摄像机的外参数平移矩阵。
5.根据权利要求1所述的反射镜位移测量方法,其特征在于:通过反射镜移动前后的相对于虚像的摄像机外参数求得虚像的移动距离;设反射镜移动前相对于虚像的摄像机外参数旋转矩阵为R1,平移矩阵为T1,反射镜移动后平移矩阵为T2,则虚像的移动距离tz可以由下式计算得到:
式中列向量T=[tx,ty,tz]T,其中tz即为虚像的移动距离。
6.根据权利要求1所述的反射镜位移测量方法,其特征在于:根据平面反射定律,反射镜的位移为虚像移动距离的1/2,将得到的虚像移动距离除以2便可得到反射镜的位移,即等于tz/2,式中tz即为虚像的移动距离。
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