[发明专利]非标定型检测系统及其检测的方法有效
申请号: | 201410474295.6 | 申请日: | 2014-09-17 |
公开(公告)号: | CN104515740B | 公开(公告)日: | 2017-07-07 |
发明(设计)人: | 李光立;魏培坤 | 申请(专利权)人: | 中央研究院 |
主分类号: | G01N21/25 | 分类号: | G01N21/25;G01N21/552;G01B11/06 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司11127 | 代理人: | 汤在彦 |
地址: | 中国台*** | 国省代码: | 台湾;71 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 非标 定型 检测 系统 及其 方法 | ||
1.一种用于检测化学物质的非标定型检测系统,其特征在于,所述非标定型检测系统包括:
一非标定型检测晶片,其包含多组具有不同周期长度的多层周期性金属结构,所述周期性金属结构选自周期性金属孔状结构、或周期性金属狭缝结构;以及一窄频光源。
2.如权利要求1所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述周期性金属孔状结构为圆形或多边形的孔状结构。
3.如权利要求1所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述周期性金属狭缝结构包括:
(a)一透明基板,其包含多组第一周期性凸槽结构,且各组第一周期性凸槽结构具有不同的周期长度;以及
(b)一金属层,其包覆所述透明基板,且包括对应所述多组第一周期性凸槽结构的多组第二周期性凸槽结构及多组第三周期性凸槽结构,其中所述第二周期性凸槽结构的各凸槽与其所对应的所述第一周期性凸槽结构的各凸槽之间所形成的凹部结构互相嵌合,而所述第三周期性凸槽结构位于其所对应的所述第一周期性凸槽结构之上。
4.如权利要求3所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述非标定型检测晶片进一步包含一分子层,所述分子层包覆在所述金属层上,且包含一或多种可与所述化学物质结合的分子。
5.如权利要求4所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述化学物质包含元素、生物分子、聚合物或药物。
6.如权利要求5所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述生物分子包含蛋白、DNA或RNA。
7.如权利要求3所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述第二周期性凸槽结构的高度为纳米级。
8.如权利要求3所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述第二周期性凸槽结构的周期长度为380至780纳米。
9.如权利要求3所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述透明基板由玻璃或塑胶材料所制成。
10.如权利要求3所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述金属层由选自金、银、铝或铜的材料所制成。
11.如权利要求1所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述非标定型检测晶片的所述周期性金属结构所产生的共振波长范围涵盖所述窄频光源的波长。
12.如权利要求1所述的非标定型检测系统,其特征在于,所述非标定型检测系统进一步包含一影像感测器。
13.一种使用如权利要求3所述的非标定型检测系统进行非标定型检测的方法,其特征在于,所述非标定型检测的方法包括下列步骤:
(a)提供一样本;
(b)将所述样本置于所述非标定型检测晶片上,使之覆盖晶片表面;
(c)使所述窄频光源从所述非标定型检测晶片的透明基板方向正向入射,通过所述多组具有不同周期长度的周期性凸槽结构后分别产生穿透光影像,并组合形成一光谱影像;以及
(d)观测所述光谱影像,以判定所述样本中是否含有所述化学物质。
14.如权利要求13所述的非标定型检测的方法,其特征在于,使用如权利要求3所述的非标定型检测系统,且所述样本覆盖所述金属层。
15.如权利要求14所述的非标定型检测的方法,其特征在于,所述非标定型检测晶片进一步包含一分子层,所述分子层包覆在所述金属层上,且包含一或多种可与所述化学物质结合的分子。
16.如权利要求15所述的非标定型检测的方法,其特征在于,所述化学物质包含元素、生物分子、聚合物或药物。
17.如权利要求13所述的非标定型检测的方法,其特征在于,所述步骤(b)和(c)之间进一步包含一清洗步骤。
18.如权利要求13所述的非标定型检测的方法,其特征在于,所述非标定型检测系统进一步包含一影像感测器。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中央研究院,未经中央研究院许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410474295.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。