[发明专利]一种照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置有效
申请号: | 201410474508.5 | 申请日: | 2014-09-17 |
公开(公告)号: | CN105486939B | 公开(公告)日: | 2019-08-13 |
发明(设计)人: | 陈斌;徐海燕;辛康;谢恒贵 | 申请(专利权)人: | 上海精密计量测试研究所 |
主分类号: | G01R31/00 | 分类号: | G01R31/00;G05B23/02 |
代理公司: | 上海航天局专利中心 31107 | 代理人: | 金家山 |
地址: | 201109 *** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 照射 系统 射频 参数 导弹 电气 校准 装置 | ||
1.一种照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置,其特征在于,包括:测量模块、与所述测量模块连接,并接收测量模块测量数据的嵌入式控制器;对测量模块进行适配的多路适配器;
所述测量模块包括:PXI高速数采模块、PXI数字多用表模块、PXI多路复用开关模块、频谱分析仪、功率敏感器;
照射系统射频参数校准时,照射系统射频信号经过频谱分析仪混频至中频后输入到PXI高速数采模块,PXI高速数采模块进行采集后,将采集到的射频信号送入到嵌入式控制器,所述嵌入式控制器通过二次解调获取照射系统需要校准的射频参数;火控指挥仪多普勒预装信号输入到PXI高速数采模块,PXI高速数采模块将采集到的预装信号输入到嵌入式控制器,并对预装信号进行解调,获得多普勒预装信号需校准的参数;最后,分别由照射系统需要校准的射频参数和多普勒预装信号需校准的参数进行相位比较,获得两者的相位差,即调制相移。
2.依据权利要求1所述的照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置,其特征在于,导弹电气参数校准时,首先用交互式提醒方式、图形显示各种功能状态的通过与否,进行TP1功能检查和校准;接着用PXI数字多用表、频谱分析仪、多路适配器、微波信号源进行TP2性能检查所需的射频功率检查、视频注入检查、直波信号检查、回波信号检查、全向信号检查等功能检查和校准;最后,用PXI数字多用表、多路适配器对直流和逻辑激励信号状态检查和电压校准。
3.依据权利要求1所述的照射系统射频参数和导弹电气参数校准装置,其特征在于,还包括:显示套件,所述显示套件用于显示嵌入式控制器的数据。
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