[发明专利]一种频谱检测方法及其装置

权利要求书

1.一种频谱检测方法，其特征在于，所述方法包括：

S1，对接收信号进行自干扰抑制计算，得到采样信号；所述步骤S1具体包括：

S11，对接收信号进行建模，采用如下公式：

$r\left(k\right)=\underset{l=0}{\overset{L-1}{\Σ}}h\left(l\right)s_i(k-l)+s_p\left(k\right)+w\left(k\right)$

上式中，r(k)为接收信号，s_i(k)为第i个发射源的自发射信号，h(l)为第l条路径的直接泄露和反射的多径分量；s_p(k)和w(k)分别为想要接收的信号和噪声，L为采样的路径数量；

S12，计算所述接收信号与自发射信号的相关度；

S13，建立相关度矩阵；

S14，根据所述相关度矩阵计算线性自干扰的值；

S15，根据所述线性自干扰的值，通过所述步骤S11建立的接收信号模型生成自干扰抑制后的采样信号；

S2，根据所述采样信号的采样码片的相位邻差的个数和预设的虚警概率，计算判决门限；所述判决门限根据以下公式计算：

其中，N为所述采样信号的采样码片的相位邻差的个数，P_f为所述虚警概率，erfc^-1为余补误差函数的反函数；

S3，计算所述采样码片的相位邻差，并计算所述采样码片的相位邻差的均值；所述步骤S3包括：

S31，计算所述采样信号的每个采样码片的相位θ_n；

${\mathrm{\θ}}_n=\left\{\begin{array}{cc}arctan\left(\frac{\mathrm{Im}\left(r\right(n\left)\right)}{\mathrm{Re}\left(r\right(n\left)\right)}\right)\mathrm{mod}2\mathrm{\π}& \left(\mathrm{Re}\right(r\left(n\right))\≥0)\\ \left(arctan\right(\frac{\mathrm{Im}\left(r\right(n\left)\right)}{\mathrm{Re}\left(r\right(n\left)\right)})+\mathrm{\π})\mathrm{mod}2\mathrm{\π}& \left(\mathrm{Re}\right(r\left(n\right))\<0)\end{array}\right.;$

其中，Re(r(n))和Im(r(n))分别是所述采样码片的实部和虚部，(·)mod2π是为了保证计算的相位在[0,2π]的区间内；

S32：根据计算的所述采样信号的每个采样码片的相位，计算所述采样码片的相位邻差，所述相位邻差ψ_n的计算公式为：ψ_n＝(θ_n+1-θ_n)mod2π；

S33：计算所述相位邻差的均值

S4，根据所述相位邻差的均值计算相位邻差累加量；所述步骤S4包括：

所述相位邻差累加量根据以下公式计算：

S5，根据所述相位邻差累加量和所述判决门限判定主用户是否存在；所述步骤S5具体包括：

S51：计算所述相位邻差累加量ψ_sum与Nπ的差的绝对值，即|ψ_sum-Nπ|；

S52：比较所述|ψ_sum-Nπ|的值与所述判决门限的数值大小；

S53：若判定主用户信号存在；否则判定所述主用户信号不存在。