[发明专利]单量子比特完备互相无偏基的实现装置

权利要求书

1.一种单量子比特完备互相无偏基的实现装置，其特征在于，由一个波片(4)和偏振片(3)构成：

所述波片(4)的相位为δ，入射光正入射所述波片(4)；

所述偏振片(3)位于所述波片(4)的光路后端，用于将由所述波片(4)入射光中的沿水平方向偏振的成分与沿竖直方向偏振的成分分离；

其中，定义所述波片(4)的光轴相对于水平方向的角度为θ，当该θ取值分别为θ₁，θ₂，θ₃时，实现单个量子比特的三个测量基，该三个测量基构成完备互相无偏基。

2.根据权利要求1所述的实现装置，其特征在于，所述波片(4)的相位δ处在k×360°±[111.5°，141.76°]范围内，其中，k为整数。

3.根据权利要求2所述的实现装置，其特征在于，所述波片(4)的相位δ和光轴相对于水平方向的角度θ满足使所述波片(4)的框架势Φ(δ)＝0，其中：

Φ(δ)=minθ1,θ2,θ3{[r→(δ,θ1)·r→(δ,θ2)]2+[r→(δ,θ1)·r→(δ,θ3)]2+[r→(δ,θ2)·r→(δ,θ3)]2}]]>

其中，定义水平偏振和竖直偏振方向为基矢，波片作用到偏振片后实现测量基的布洛赫矢量形式为：

r→(δ,θ)=sin2δ2sin4θ-sinδsin2θ1-2sin2δ2sin22θ.]]>