[发明专利]二线测试探针装置及其应用方法有效
申请号: | 201410476692.7 | 申请日: | 2014-09-17 |
公开(公告)号: | CN104251923B | 公开(公告)日: | 2017-06-30 |
发明(设计)人: | 谭艳萍;黄俊华;陈百强;王星;翟学涛;杨朝辉;高云峰 | 申请(专利权)人: | 大族激光科技产业集团股份有限公司;深圳市大族数控科技有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067;G01R31/00 |
代理公司: | 广州华进联合专利商标代理有限公司44224 | 代理人: | 何平 |
地址: | 518055 广东省深圳市南*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 二线 测试 探针 装置 及其 应用 方法 | ||
1.一种二线测试探针装置,用于对印刷电路板进行测试,其特征在于,包括:
牵引机构;
主体固定座,固定于所述牵引机构上,所述主体固定座能够在牵引机构的带动下运动;
测试探针,包括固定于所述主体固定座上的弹性支架及设置在弹性支架上的探头,所述弹性支架上设有凸出的遮光块;及
光电传感器,设置于所述主体固定座上,并与所述牵引机构通信连接,所述光电传感器靠近所述测试探针的一侧开设有凹口,所述光电传感器具有由所述凹口的一侧发射向所述凹口的另一侧的对射光,所述光电传感器用于实时测量所接收到的所述对射光的光量,并产生随所述对射光的光量变化的输出电压;
其中,所述遮光块能够伸入所述凹口并遮挡所述对射光,所述弹性支架在测试时产生变形,以使所述遮光块所遮挡的所述对射光的光量产生变化,并通过光电传感器产生变化的输出电压,所述牵引机构根据所述输出电压的值控制所述测试探针施加在所述印刷电路板上的压力;
所述二线测试探针装置还包括传感器调整座,所述传感器调整座可滑动地设置于所述主体固定座上,所述光电传感器固定于所述传感器调整座上;
所述主体固定座上开设有卡槽;所述传感器调整座上开设有第一螺孔;所述二线测试探针装置还包括调节螺钉,所述调节螺钉的螺帽卡持于所述卡槽内,且所述调节螺钉与所述第一螺孔相螺合,以使所述调节螺钉与所述传感器调整座共同形成螺纹副结构,转动所述调节螺钉,可调节所述传感器调整座相对所述主体固定座的位置。
2.根据权利要求1所述的二线测试探针装置,其特征在于,还包括支架固定座,所述支架固定座设于所述主体固定座的一端,所述弹性支架固定于所述支架固定座上。
3.根据权利要求2所述的二线测试探针装置,其特征在于,所述支架固定座还包括限位块,所述限位块与所述弹性支架远离所述主体固定座的端部相接触。
4.根据权利要求1所述的二线测试探针装置,其特征在于,所述传感器调整座上开设有条形孔,所述主体固定座上开设有第二螺孔,所述二线测试探针装置还包括固定螺钉,所述固定螺钉穿设于所述条形孔内,并与所述第二螺孔配合,且所述固定螺钉在所述条形孔内能够移动,以使传感器调整座可滑动地设置于所述主体固定座上。
5.根据权利要求1所述的二线测试探针装置,其特征在于,所述弹性支架由塑料制成。
6.根据权利要求1所述的二线测试探针装置,其特征在于,所述探头包括连接臂及设置于所述连接臂一端上的接触针头,所述连接臂设于所述弹性支架上。
7.根据权利要求6所述的二线测试探针装置,其特征在于,所述接触针头为刀片状结构或针形结构。
8.一种二线测试探针装置的应用方法,其特征在于,包括以下步骤:
提供两个权利要求1至权利要求7任意一项所述的二线测试探针装置;
分别将两个所述二线测试探针装置的测试探针扎在校正板上任意一联通线路的两端的焊盘上;
其中一个所述二线测试探针装置保持不动,另一个所述二线测试探针装置移动以调整其测试探针施加于校正板上的接触力;
实时获取所述二线测试探针装置的位移量及所述光电传感器的输出电压,以将所述接触力与所述输出电压进行关联;
根据所述接触力与所述输出电压间的关系对所述二线测试探针装置进行调节。
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