[发明专利]一种测量装置在审

专利信息
申请号: 201410481540.6 申请日: 2014-09-21
公开(公告)号: CN104198012A 公开(公告)日: 2014-12-10
发明(设计)人: 李强;彭恩文;张建清 申请(专利权)人: 成都众山科技有限公司
主分类号: G01F23/28 分类号: G01F23/28
代理公司: 代理人:
地址: 610000 四川省成都市高新区天府*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种测量装置,包括主机(5)、微波反馈系统(1),其特征在于,还包括抱箍(6)、至少三颗不位于同一直线上且轴线在竖直方向上的连接螺栓(4),所述连接螺栓(4)的下端均固定连接在微波反馈系统(1)上,主机(5)上设置有数量与连接螺栓(4)数量匹配的螺栓孔,每颗连接螺栓(4)上还螺纹连接有螺帽(3),主机(5)和微波反馈系统(1)通过连接螺栓(4)螺栓连接,所述抱箍(6)固定在主机(5)上,且抱箍(6)的轴线与微波反馈系统(1)的下端面平行。

2.根据权利要求1所述的一种测量装置,其特征在于,所述连接螺栓(4)和螺帽(3)的材质均为不锈钢。

3.根据权利要求1所述的一种测量装置,其特征在于,所述微波反馈系统(1)上还设置有水平仪(2)。

4.根据权利要求1所述的一种测量装置,其特征在于,所述连接螺栓(4)和螺帽(3)上的螺纹为细牙螺纹。

5.根据权利要求1所述的一种测量装置,其特征在于,每颗连接螺栓(4)上螺纹连接的螺帽(3)均为两颗,且每颗连接螺栓(4)上螺纹连接的螺帽(3)分别位于主机(3)的上下两端。

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