[发明专利]一种PCIE总线传输测试方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种PCIE总线传输测试方法。

背景技术

PCI Express总线传输质量和速率是本课题设计的最主要的性能指标，是使系统适用于大面阵红外焦平面探测器图像采集与测试应用的关键，因此，对PCIE总线传输性能进行全面的测试验证非常重要。

发明内容

针对上述问题，本发明的目的是提供一种采用了美国Tektronix公司高带宽示波器TEK DSA71254对设计实现的PCIE传输链路的性能测试。

为实现上述目的，本发明采取以下技术方案：包括将采集板卡插在根据PCI-SIG设计规范制作的标准治具上，然后用Speed Toggle Button切换PCIE接口的数据速率测试目标值。

进一步地，所述“用Speed Toggle Button切换PCIE接口的数据速率测试目标值”具体包括：给TEK DSA71254设定以下参数：伪随机数据速率为5.0GT/s，单元间隔为200ps，最小允许交叉时间为120ps，根据PCI-SIG规范要求，测试UI数为1000000个，最大允许峰峰抖动为8ps，参数设置完成后进行多次测量，在示波器内置软件系统中。

本发明由于采取以上技术方案，其具有以下优点：

1. 采用眼图测试对总线传输质量进行验证更加可靠。

2．每次传输数据包传输量更大。

3. 眼图整体形态比较端正，这表明链路整体传输性能较好。

4. 完全满足了大面阵甚至是超大面阵红外焦平面阵列的图像采集和测试需求。

附图说明

图1是本发明的链路眼图实际测试图；

图2是本发明总线传输测试统计数据关系曲线中数据包大小与传输速率的关系曲线；

图3是本发明总线传输测试统计数据关系曲线中每次传输数据包数与传输速率的关系曲线。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的进行详细的描述。

如图1所示，本发明包括将采集板卡插在根据PCI-SIG设计规范制作的标准治具上，然后用Speed Toggle Button切换PCIE接口的数据速率测试目标值。给TEK DSA71254设定以下参数：伪随机数据速率为5.0 GT/s，单元间隔（UI）为200ps，最小允许交叉时间为120ps，根据PCI-SIG规范要求，测试UI数为1000000个，最大允许峰峰抖动（RMS）为8ps。参数设置完成后进行多次测量，在示波器内置软件系统中，得到如图1所示的实际测试眼图。从实测结果中可以看到，在最高速率的测试比特流传输过程中，眼图张开幅度较大，信号有一定程度的变形，表示信号存在传输和信号偏斜，但“眼线”清晰，眼图整体形态比较端正，这表明链路整体传输性能较好。分析示波器导出的实测数据报表，可以看到眼图测试的具体结果参数列表，如表1所示。表1