[发明专利]一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统及方法

权利要求书

1.一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统，其特征在于，包括沿光路方向依次共光轴设置的目标、分光镜和红外探测器；该系统还包括黑体和聚光镜，所述黑体的辐射光经聚光镜汇聚于分光镜上，并由分光镜反射到达目标，黑体的辐射光通过与目标作用然后反射至分光镜并到达探测器。

2.根据权利要求1所述的基于环境辐射改变的现场目标发射率测量系统，其特征在于，所述分光镜倾斜放置且分光镜与光路方向之间的夹角为135°。

3.一种基于环境辐射改变的现场目标发射率测量方法，其特征在于，步骤如下：

步骤1，在利用红外探测器测试之前，先对红外探测器进行辐射定标；

步骤2，采用黑体辐射为基准建立系统响应函数；

步骤3，根据步骤2建立的系统响应函数，测量在环境辐射强度为V_s1的条件下，红外探测器的输出响应值V₁；

步骤4，根据步骤2建立的系统响应函数，改变环境辐射强度为V_s2的条件下，测量红外探测器的输出响应值V₂；

步骤5，根据步骤3和步骤4测得的两种不同的辐射强度条件下红外探测器的输出响应值，算出目标的反射率，再根据目标反射率和发射率的关系求得目标的发射率。

4.根据权利要求3所述的基于环境辐射改变的现场目标发射率测量方法，其特征在于，步骤1所述的辐射标定，具体如下：

物体在波段λ₁～λ₂内的辐射亮度L，由普朗克公式推得：

L=ϵπ∫λ1λ2C1λ-5(eC2λT-1)dλ]]>

式中，ε为物体发射率，C₁为第一辐射常量，C₁＝2πhc²＝3.7415×10⁸W·μm⁴/m²，C₂为第二辐射常量，C₂＝hc/k＝1.43879×10⁴μm·K，λ为波长，T为开氏温度；

红外探测器的标定模型为：

V＝αL+L_f

式中，V为红外探测器的输出值，L_f为红外探测器本身杂散能量，α为红外探测器的亮度响应度。