[发明专利]探测器组件的调试夹具

说明书

技术领域

本发明涉及探测器组件的调试领域，尤其涉及一种有效降低探测器组件的调试难度且提高调试精度的探测器组件的调试夹具。 

背景技术

随着社会的进步和科学技术的不断发展，对于设备的精度要求也越来越高，虽然现代的加工技术和精度有了足够的提高，但是对于组合装调精度很高的设备，最终的设计实现要靠调试来保证，所以装调便利性和高效性成为装调人员追捧的对象。 

根据设计的需求，为了装调精度和效率的提高都会设计出相应的一些装调辅助工装，有些普遍适用的工装夹具会成为定型产品，可以直接买到。但是许多新设计设备都有自己的独特性，调试也是摸索的过程，摸索的过程就会设计出合适好用的夹具来满足装调的要求。 

目前对探测器组件调试都是先根据理论修切片的厚度开始调试，由于装调的结果与理论之间的误差会很大，每次要换很多次修切片的厚度来寻找相面的精确位置，每次调试都将要换几十次的修切片的厚度尺寸才可以调试出满意的结果，每次会加工很多的修切片用来调试，结果更多的是修切片和时间精力的浪费。因为每次的调试过程也只能保证修切的这一维方向，不能满足三维方向的验证，如果每次三维方向都要保证则需要很久的时间才可以调试一次，所以每次确定修切片可以保证探测器组件在相面上，再来调试另外二维方向，还会出现修切片不合适的状态，所以满足结果的试验会花很长的时间和精力，极大的降低了工作的效率和成果。 

发明内容

本发明要解决的技术问题是提供一种探测器组件的调试夹具，能准确、高效的从三维方向上调试探测器组件，从而解决现有探测器组件调试时间长及精度差的问题。 

为解决上述技术问题，本发明提供一种探测器组件的调试夹具，包括： 

四块挡板、若干调整式导轨连接组件和若干调节螺钉组件；其中， 

所述四块挡板中的一块挡板为底部挡板，另外三块挡板分别设置在所述底部挡板的三条边上方，所述另外三块挡板均垂直于所述底部挡板，所述四块挡板内围成放置待调试探 测器组件的调试空间； 

所述四块挡板中相邻的两块挡板均通过至少一个调整式导轨连接组件连接，每块挡板通过其连接的调整式导轨连接组件均能调整与相邻的其它挡板的相对位置； 

所述每块挡板上设置至少一个调节螺钉组件，每个调节螺钉组件前端的调节块均设置在所述调试空间内。 

本发明的有益效果为：通过将四块挡板围成调试空间，并使相邻的挡板通过调整式导轨连接组件连接，及在各挡板上设置至少一个调节螺钉组件，使得该调试夹具能实现对调试空间内夹持的探测器组件在三维空间进行位置移动，可以同时满足三维方向调试，并可方便更换不同尺寸的部件，适应不同尺寸探测器组件的调试，具有实用性、适应性和调试精度高的优点，该调试夹具在简化调试过程的同时，也有效提高了调试效率。 

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。 

图1为本发明实施例提供的调试夹具的结构示意图； 

图2为本发明实施例提供的调试夹具的另一角度结构示意图。 

具体实施方式

下面对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明的保护范围。 

图1、图2所示为本发明实施例提供一种探测器组件的调试夹具，用于调试探测器组件，该调试夹具包括： 

四块挡板1、2、3、4、若干调整式导轨连接组件和若干调节螺钉组件61、62、63、64；其中， 

四块挡板中1、2、3、4的一块挡板为底部挡板4，另外三块挡板1、2、3分别设置在底部挡板4的三条边上方，另外三块挡板1、2、3均垂直于底部挡板4，四块挡板1、2、3、4内围成放置待调试探测器组件7的调试空间； 

四块挡板1、2、3、4中相邻的两块挡板均通过至少一个调整式导轨连接组件5连接，每块挡板通过其连接的调整式导轨连接组件均能调整与相邻的其它挡板的相对位置； 

每块挡板上设置至少一个调节螺钉组件，每个调节螺钉组件62前端的调节块624均设置在调试空间内。