[发明专利]一种光纤测试设备集成系统及操作方法

说明书

技术领域

本发明涉及光纤生产领域，尤其涉及一种光纤测试设备集成系统及操作方法。

背景技术

光纤是光导纤维的简写，是一种由玻璃或塑料制成的纤维，可作为光传导工具。传输原理是‘光的全反射’。前香港中文大学校长高锟和George A. Hockham首先提出光纤可以用于通讯传输的设想，高锟因此获得2009年诺贝尔物理学奖。

微细的光纤封装在塑料护套中，使得它能够弯曲而不至于断裂。通常，光纤的一端的发射装置使用发光二极管（light emitting diode,LED）或一束激光将光脉冲传送至光纤，光纤的另一端的接收装置使用光敏元件检测脉冲。

在日常生活中，由于光在光导纤维的传导损耗比电在电线传导的损耗低得多，光纤被用作长距离的信息传递。

通常光纤与光缆两个名词会被混淆。多数光纤在使用前必须由几层保护结构包覆，包覆后的缆线即被称为光缆。光纤外层的保护层和绝缘层可防止周围环境对光纤的伤害，如水、火、电击等。光缆分为：光纤，缓冲层及披覆。光纤和同轴电缆相似，只是没有网状屏蔽层。中心是光传播的玻璃芯。

 在光纤的生产过程中，测试占较大的比重。光纤的测试参数较多，一台测试设备无法完成一盘光纤所有参数的测试，因此完成一盘光纤的测试需要几台不同的测试仪表。光纤测试时，不同的测试指标需要连接在对应的测试仪表上，即每盘光纤在不同测试设备上均需连接一次，这样既造成测试效率低下、占用测试人员较多、光纤检验流程复杂，又不利于光纤在测试区域的快速流转和光纤流转的过程控制。

发明内容

为了克服上述现有技术的不足，解决上述技术问题本发明提供了一种利用光开关的特性对测试设备进行整合，对多盘样品光纤进行相继测试，从而有效提高生产效率的技术方案：

一种光纤测试设备集成系统，包括扩展模块以及若干与扩展模块通讯的测试仪组，扩展模块内置一光开关，该光开关一侧的端口组A与测试仪组连接通讯，另一侧的端口组B用于与样品光纤连接通讯，光开关通过控制组件实现样品光纤与测试仪组中各测试仪的通讯。

进一步的，扩展模块包括内置于扩展模块中的光开关，控制光开关物理切换或逻辑操作的控制组件，以及用于分别与测试仪组、样品连接的六个测试仪组侧接口和若干个样品侧接口；所述测试仪组侧接口和样品侧接口分别与光开关两侧的端口组A、端口组B通过光纤跳线进行连接通讯。

进一步的，光开关物理切换分为程序自动切换和手动切换两种模式。

进一步的，测试仪组包括光纤衰减测试仪、光纤色散测试仪及光纤偏振模色散测试仪，光纤衰减测试仪、光纤色散测试仪及光纤偏振模色散测试仪均具有两个测试接口，各测试接口分别与扩展模块上的六个测试仪组侧接口对应连接。

进一步的，扩展模块中光纤色散测试仪、光纤偏振模色散测试仪通讯信号进行串行后在与光开关端口组A连接通讯。

    进一步的，端口组B分为样品连接端口A和样品连接端口B。样品连接端口A和样品连接端口B中分别包括样品测试信号输入引纤与样品测试信号输出引纤，通过样品测试信号输入引纤与样品测试信号输出引纤分别与待测样品光纤两端连接。

   此光纤测试设备集成系统操作步骤为：

（1）将样品光纤接入样品连接端口A，以光开关切换使样品连接端口A与光纤衰减测试仪对应测试端口导通，按照常规方法进行光纤衰减测试仪的测试；

（2）将另一个样品光纤接入样品连接端口B，等待光纤衰减测试仪测试完毕后通过光开关切换，光纤衰减测试仪对应测试端口与样品测试端口B导通，以按照常规方法进行光纤衰减测试仪测试；

（3）光纤衰减测试仪在进行端口B样品测试的同时，色散测试仪与偏振模色散测试仪构成的串联模式与端口A导通，相继完成色散及偏振模色散的测试；

（4）完成样品连接端口A上样品光纤的测试后，光开关将光纤色散测试仪与光纤色散测试仪及偏振模色散测试仪所构成的串行模式进行切换，与样品连接端口B导通以进行测试，用新的样品光纤代替样品连接端口A上的样品光纤，再从步骤（1）开始进行循环测试。

本发明的有益效果在于：

（1）本发明提供一种光纤测试设备集成系统将多种光纤测试设备集成在一起，填补业界空白。

（2）本发明实现使用一台扩展设备连接多台光缆测试设备，完成同一被测光纤或者多盘光纤的相继测试，减少样品光纤测试中转步骤，有效提高生产效率。