[发明专利]一种磁头测试的方法及装置有效

专利信息
申请号: 201410493608.2 申请日: 2014-09-24
公开(公告)号: CN104240724B 公开(公告)日: 2017-05-24
发明(设计)人: 刘捷;肖锋;林魁 申请(专利权)人: 福建联迪商用设备有限公司
主分类号: G11B5/455 分类号: G11B5/455
代理公司: 福州市博深专利事务所(普通合伙)35214 代理人: 林志峥
地址: 350003 福建省福州*** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 一种 磁头 测试 方法 装置
【权利要求书】:

1.一种磁头测试的方法,其特征在于,包括:

S101、采集合格磁头在边界条件下划卡时产生的第一感应信号,将所述第一感应信号转换为数字信号;

S102、将所述步骤S101所得数字信号进行存储;

S103、读取S102步骤存储的数字信号,将所述数字信号转换为模拟信号,将所述模拟信号转换为磁场;

S104、被测磁头在所述步骤S103所得磁场中产生感应电流;

S105、对所述步骤S104所得感应电流进行解码,获得卡片信息,并通过校验卡片信息判断是否正确,若是,则被测磁头为合格磁头;若否,则被测磁头为不合格磁头。

2.根据权利要求1所述的磁头测试的方法,其特征在于,所述步骤S101中的“将所述感应信号转换为数字信号”具体为:采用预设的固定采样频率对感应信号进行采样,获得数字信号。

3.根据权利要求1所述的磁头测试的方法,其特征在于,所述步骤S103中的“数字信号”具体为:不同的划卡条件下的合格磁头在划卡时产生的感应信号转换的数字信号;所述划卡条件为最快速度划标准卡、最慢速度划标准卡、标准速度划弱磁卡、标准速度划强磁卡或标准速度划JITTER边界卡。

4.根据权利要求1所述的磁头测试的方法,其特征在于,所述步骤S104具体为:同时对两个以上的被测磁头在所述步骤S103所得磁场中产生感应电流;所述步骤S103产生磁场的位置与测试所述步骤S104中每个被测磁头的距离相等。

5.根据权利要求1所述的磁头测试的方法,其特征在于,还包括步骤S106,所述步骤S106还包括:

统计被测磁头的测试数据,根据所述测试数据计算被测磁头的良率,当所述计算被测磁头的良率低于预设阀值时,则发出警报。

6.一种磁头测试的装置,其特征在于,包括信号采集模块、存储模块、写磁模块、被测磁头模块、解码模块和主控模块;

所述信号采集模块,用于采集合格磁头在边界条件下划卡时产生的第一感应信号,将所述第一感应信号转换为数字信号;

所述存储模块,用于将信号采集模块所得数字信号进行存储;

所述写磁模块包括依次连接的读取单元、数模转换单元和高抗写磁头;

所述读取单元,用于读取存储模块的数字信号;

所述数模转换单元,用于将所述数字信号转换为模拟信号;

所述高抗写磁头,用于将所述模拟信号转换为磁场;

所述被测磁头模块,用于被测磁头在高抗写磁头所得磁场中产生感应电流;

所述解码模块,用于对被测磁头模块所得感应电流进行解码,获得卡片信息;

所述主控模块,用于通过校验卡片信息判断是否正确,若是,则被测磁头为合格磁头;若否,则被测磁头为不合格磁头。

7.根据权利要求6所述的磁头测试装置,其特征在于,所述信号采集模块包括第一设置单元和采样单元;

所述第一设置单元,用于预设固定的采样频率;

所述采样单元,用于采用预设的固定采样频率对第一感应信号进行采样,获得数字信号。

8.根据权利要求6所述的磁头测试装置,其特征在于,所述存储模块包括两个以上存储单元,用于存储不同的划卡条件下的合格磁头在划卡时产生的感应信号转换的数字信号。

9.根据权利要求6所述的磁头测试装置,其特征在于,所述磁头测试装置还包括两个以上固定装置,用于同时对两个以上的被测磁头在高抗写磁头所得磁场中产生感应电流,所述高抗写磁头产生磁场的位置与每个被测磁头的距离相等。

10.根据权利要求6所述的磁头测试装置,其特征在于,所述主控模块包括统计单元、计算单元、第二设置单元和警报单元;

所述统计单元,用于统计被测磁头的测试结果,获取统计数据;

所述计算单元,用于根据统计数据计算被测磁头的良率;

所述第二设置单元,用于预设阀值;

所述警报单元,用于当所述计算被测磁头的良率低于预设的阀值时,则发出警报。

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