[发明专利]集中式电子存储介质同步检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及一种电子存储介质同步检测方法。

背景技术

在公司和政府的日常采购中，电子数据存储介质统一由公司进行采购，采购数量巨大，只通过厂家的报告和外观无法辨别其真假和性能好坏。

假冒伪劣电子数据存储介质成本仅为正品价格的百分之五，其容量、性能等指标严重低于正品；存储在假冒伪劣电子数据存储介质中的电子数据极其容易被破坏或者丢失，且成功数据被恢复的概率仅为百分之三，使用假冒伪劣的电子数据存储介质严重影响了公司内部的正常办公，存在着潜在的信息安全风险

现阶段常见的数据检测方式为通过一些软件进行分项检测，检测内容比较分散，无法形成全面的检测报告，并且因为使用软件的不同检测准确率存在较大误差。在面对市面上多种接口的电子存储介质时，没有能统一兼容的设备。

现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、并发操作数少、操作结果无法确定等问题。鉴于这种实际需求，本发明设计出能够频繁地同时(并发)对大量不同电子存储介质设备进行安全快速检测。

发明内容

本发明是为了解决现有国内外数据检测技术普遍存在功能单一、检测速度不高、操作结果无法确定的问题。本发明提供了一种集中式电子存储介质同步检测方法。

集中式电子存储介质同步检测方法，它包括如下步骤，

步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；

步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；

步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；

步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；

步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；

步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。

本发明带来的有益效果是，本发明兼容目前市场上各种接口的电子存储介质接入，如IDE/SATA/SAS/SCSI/USB3.0/USB2.0。本发明能同时(并发)对大量不同介质设备(IDE/SATA/SAS/SCSI/USB3.0/USB2.0)进行检测，支持28路储存介质同步操作，支持的最大硬盘超过10T。本发明提供各种用户自定义的检测方式，满足用户多角度，多用途，个性化，自定义式的检测需求。本发明从方便用户使用的角度出发，实现人机交互设计。被检测磁盘设备环绕触摸屏幕分布，并且在软件的交互界面相应位置呼应。本发明采用Windows7操作系统，软件逻辑架构设计充分考虑客户的需求，实现人性化处理，体现出软件的实用性和易用性。实用性体现在支持大部分的介质格式。易用性体现在对数据存储设备自动识别，即插即检并能输出完整的检测结果。

附图说明

图1为具体实施方式一所述的电子存储介质同步检测的流程图。

具体实施方式

具体实施方式一：参见图1说明本实施方式，本实施方式所述的集中式电子存储介质同步检测方法，它包括如下步骤，

步骤一：将电子存储介质接入设备接口，识别电子存储介质的磁盘信息；

步骤二：当前设备接口的电子存储介质处于等待执行状态，该状态在液晶显示屏上显示；

步骤三：利用SMART对电子存储介质的磁盘进行关键属性的全面分析，在液晶显示屏上显示出具体分析结果，所述的关键属性包括底层数据读取错误率、重定位扇区计数、电机起转重试、终端校验出错、寻道性能、通信超时、重定位事件计数、等候重定的扇区计数和无法校正的扇区数量；

步骤四：利用字符对电子存储介质进行覆写操作，在操作结束后，在液晶显示屏上显示写入速度；

步骤五：对电子存储介质的磁盘进行读取性能测试，用来检测电子存储介质磁盘读取速率，读取完成后，获得的数据在液晶显示屏上用柱状图的表达形式显示出来；

步骤六：拔出或断开电子存储介质，在液晶显示屏上显示与电子存储介质相应的设备接口位置处于空闲状态，完成对电子存储介质的检测。