[发明专利]切换式负载时域反射计去嵌入式探测器在审
申请号: | 201410497387.6 | 申请日: | 2014-09-25 |
公开(公告)号: | CN104459340A | 公开(公告)日: | 2015-03-25 |
发明(设计)人: | J.J.皮克德;K.谭 | 申请(专利权)人: | 特克特朗尼克公司 |
主分类号: | G01R27/28 | 分类号: | G01R27/28 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 谢攀;刘春元 |
地址: | 美国俄*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 切换 负载 时域 反射 嵌入式 探测器 | ||
1.一种去嵌入式探测器,包括:
两个输入,其被配置为连接到受测设备;
存储器;
信号生成器,其被配置为输出信号;
多个负载组件,每个负载组件被配置为提供不同的负载;
多个开关,多个开关中的第一开关与信号生成器相关联,并且多个开关中的其他开关每个与一个负载组件相关联;以及
控制器,其被配置为控制多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自多个负载组件的负载的组合。
2.如权利要求1所述的去嵌入式探测器,其中所述存储器被配置为将所测量的去嵌入式探测器的S参数存储在多个开关的每个开关位置中。
3.如权利要求1所述的去嵌入式探测器,其中所述信号生成器是时域反射计脉冲信号生成器。
4.如权利要求1所述的去嵌入式探测器,其中所述信号生成器是正弦波生成器。
5.一种测试与测量系统,包括:
受测设备;
测试与测量仪器;以及
权利要求1的去嵌入式探测器。
6.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述去嵌入式探测器还包括连接到所述测试与测量仪器的输出,所述输出被配置为提供来自两个输入的测量结果。
7.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述去嵌入式探测器还包括连接到两个输入之一的第一输出和连接到两个输入中的另一个的第二输出,所述输出中的每个均被配置为输出来自两个输入中的相应一个的输入波形。
8.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述存储器被配置为将所测量的去嵌入式探测器的S参数存储在多个开关的可能开关位置中的每个中。
9.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述信号生成器是时域反射计脉冲信号生成器。
10.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述信号生成器是正弦波生成器。
11.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述测试与测量仪器包括:
用户接口,其被配置为接收用户输入以控制所述探测器;以及
处理器,其被配置为基于用户输入来向控制器发送指令。
12.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述测试与测量仪器是示波器。
13.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述测试与测量仪器是频谱分析器。
14.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述受测设备是无源受测设备。
15.如权利要求5所述的测试与测量系统,其中所述受测设备是有源受测设备。
16.一种去嵌入式探测器,包括:
两个输入,其被配置为连接到受测设备;
存储器;
信号生成器,其被配置为输出信号;
具有多个不同负载的负载集成电路;
多个开关,所述多个开关中的第一开关与所述信号生成器相关联,并且所述多个开关中的其他开关每个与所述负载集成电路的某一负载相关联;以及
控制器,其被配置为控制所述多个开关以连接跨两个输入的来自信号生成器的信号和来自所述负载集成电路的负载的组合。
17.一种测试与测量系统,包括:
受测设备;
测试与测量仪器;以及
权利要求16的去嵌入式探测器。
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