[发明专利]一种服务器内存系统的加速老化检测方法

说明书

技术领域

本发明涉及计算机检测领域，具体是利用一种服务器内存系统的加速老化检测方法，来解决当前在服务器主板内存系统存在老化强度小及老化测试覆盖度低，无法实现真正全面有效的老化检测问题。

背景技术

当前对服务器内存系统出厂老化检测，成为影响服务器品质稳定性及运算可靠性的关键因素，服务器内存系统出厂老化检测是为了在服务器正式交付客户使用之前，采用严苛的测试条件将功能或品质薄弱内存条及时剔除出来，防止存在故障隐患的内存流向客户使用环境。当前的通常做法是在出厂前的老化室中，运行内存的加压软件，对主板上的内存系统进行功能实测，同时在主板工作过程中，拉偏AC交流供电电压，实际查看对主板的影响，根据功能实测结果实现对主板质量老化选择控制。该方式存在老化强度小及老化测试覆盖度低的问题，该方式下主板内存系统老化强度即加压的强度，依赖于加压软件，通常情况下仅为单一数据的反复读写操作，表现在信号波形上，信号波形单一，内存系统的无法得到全面的测试，同时该方式的覆盖程度很大程度上依靠测试时间，基于出厂检测目的的老化测试覆盖率无法得到保证，无法实现真正全面有效的老化控制。这种单一依靠加压软件及固定测试检测时间的老化方式，无法快速有效检测出主板内存系统的薄弱环节，给主板内存部分的质量管控实现带来很大难度，进而使主板的内存部分质量可能出现波动，进而影响系统的稳定运行。在当前的服务器主板上内存的数量为12-24条不等，内存部分的稳定成为影响数据处理稳定性的关键因素；随着对服务器系统运行安全要求不断增加，为了保证服务器系统的稳定运行，在实际主板的内存系统出厂检测操作过程中，如何实现服务器主板内存系统加速老化检测的高效设计尤为重要，并成为决定服务器质量稳定的关键要素之一 。

发明内容

针对当前服务器内存系统老化检测中遇到的上述问题，结合传输眼图等关键电气因素，通过深入分析，我们总结了一种服务器内存系统的加速老化检测方法。

本发明是以老化加速控制理论支撑点，具体是利用一种服务器内存系统的加速老化检测方法，来解决当前在服务器主板内存系统存在老化强度小及老化测试覆盖度低，无法实现真正全面有效的老化检测问题。本方法保证了服务器内存系统的加速老化，在实际主板内存系统的老化检测操作过程中，实现服务器主板内存系统加速老化检测的高效设计，保证了服务器系统的稳定运行，对于服务器系统的质量可靠性具有重要意义，具体发明内容可以分为如下几个方面：

①将服务器满配内存，并置于温度变化的老化环境中，开机稳定运行30分钟。

②动态调整服务器主板的内存供电电压值，老化过程中实现连续的调整，使内存电压值处于由高到低、由低到高反复的波动状态。

③在内存槽layout走线附近，放置单端走线，其上加以高速阶跃脉冲，增强系统的噪声水平值。

④增大内存自身的动态刷新时间间隔，使内存单元的充电时间间隔加长，内存中存储内容即更依赖于内存颗粒上存储单元的自然放电速度。

⑤将内存地址空间进行随机抽取，并对抽取区域进行数据的大块读写，利用CPU的多核多线程特性，各内存地址空间并行进行读写，增大内存的测试覆盖度。

将服务器满配内存，并置于温度变化的老化环境中，开机稳定运行30分钟；在这30分钟内，温度要求进行三次温变循环，即由20摄氏度升至50度，然后降至20摄氏度，往复三次，测试系统的温度变化承受能力。

动态调整服务器主板的内存供电电压值，即将内存的供电电压在标准值基础往上调5%，然后逐渐的下调，直到在标准值基础往下调5%，老化过程中实现连续的上、下5%调整，使内存电压值处于由高到低、由低到高反复的波动状态，内存的供电处于不稳定状态，对于质量薄弱的内存将无法容纳此种工作条件。

在内存槽layout走线附近，放置单端走线，该走线连接到板载的CPLD芯片，在老化测试环节其上加以上升时间为2ns以内的高速阶跃脉冲，使该单端走线的内存信息受到串扰噪声的影响，增强内存系统的噪声水平值，加速内存老化问题的出现。

增大内存自身的动态刷新时间间隔，使内存单元的充电时间间隔加长，此处由32ms增长为256ms，使内存中存储内容即更依赖于内存颗粒上存储单元的自然放电速度，放电速度直接影响数据内存的稳定。

将内存地址空间进行随机抽取，不再采用顺序读写方式，即以100MB空间为基本单元，并对抽取的100MB区域进行数据的大块随机读写，利用CPU的多核多线程特性，各内存地址空间并行进行读写，整个老化测试时间设置为240分钟，增大内存的测试覆盖度。