[发明专利]导电配线的制作方法有效
申请号: | 201410498456.5 | 申请日: | 2014-09-25 |
公开(公告)号: | CN105513978B | 公开(公告)日: | 2018-03-20 |
发明(设计)人: | 张启民 | 申请(专利权)人: | 欣兴电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/60 | 分类号: | H01L21/60 |
代理公司: | 北京中誉威圣知识产权代理有限公司11279 | 代理人: | 王正茂,丛芳 |
地址: | 中国*** | 国省代码: | 台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 导电 制作方法 | ||
技术领域
本发明有关于一种导电配线的制作方法,尤指一种厚膜导电配线的制作方法。
背景技术
近年随电子技术的进展,供搭载诸如半导体组件、集成电路、电子零件等之用的配线基板,除小型化(Miniaturization)之外,也朝者高积体化、高输出化及高速化急速发展。尤其,上述的配线基板的制作过程也朝者金属配线细微化开发。例如,当在基板上形成诸如铜等金属配线之际,一般可以采用溅镀成膜与电解电镀等制作过程。
当以习知技术在基板上制作厚膜金属配线时,因金属配线的厚度会影响蚀刻能力,往往因蚀刻不洁影响产品制作良率,甚至无法制作出预期铜厚、配线间距的产品。
发明内容
本发明实施例在于提供一种厚膜导电配线的制作方法。
本发明其中一实施例所提供的一种导电配线的制作方法,提供一基板,该基板的上表面形成有一导电层。接着,将导电层进行图案化处理,以形成至少一导电图案于基板的上表面,其中,两两导电图案之间形成一第一凹槽区域,该第一凹槽区域的深度小于导电层的厚度,在第一凹槽区域内残留有部分的导电层。然后,于导电层上形成至少一第一牺牲图案,其中,第一牺牲图案至少填入第一凹槽区域内,第一牺牲图案在厚度方向上凸出于导电图案的上表面,两两第一牺牲图案之间形成一第二凹槽区域,且第二凹槽区域暴露至少一部分的导电图案。然后,将导电层进行电镀处理,使第二凹槽区域所暴露的导电图案增厚。最后,移除第一牺牲图案,并且,移除第一凹槽区域内所残留的导电层。
通过本发明实施例所提供的导电配线的制作方法,可不受限于蚀刻能力而制作出配线密度高、配线宽度窄的厚膜导电配线。
为使能更进一步了解本发明的特征及技术内容,请参阅以下有关本发明的详细说明与附图,然而所附图仅提供参考与说明用,并非用来对本发明加以限制者。
附图说明
图1A至图1H示出本发明一实施例的导电配线的制作方法的步骤流程。
图2为本发明另一实施例的导电配线的制作方法的步骤流程图。
附图标记说明
1基板
101基板的上表面
2、2’ 导电层
21、21’ 导电图案
201、201’ 上表面
3、3’ 第一凹槽区域
4第一牺牲层
41 第一牺牲图案
401上表面
5第二凹槽区域
6蚀刻阻挡层
7第二牺牲图案
H1、H3高度
H2 厚度
S1~S6 步骤
具体实施方式
请参阅图1A至图1H,图1A至图1H为本发明一实施例的具有导电配线的基板在制作过程中的侧视示意图,并且,图1A至图1H显示本发明一实施例的导电配线的制作方法的步骤流程。
请参考图1A,首先,提供一个基板1。基板1的种类可依据实际需求而选择。例如,当导电配线的制作方法是应用于半导体领域中,基板1可为含硅的半导体晶圆;在其它应用上,基板1可以是线路基板,而基板1的材料可以是聚碳酸酯(polycarbonate,PC)、聚碳酸酯与丙烯腈-丁二烯-苯乙烯共聚物(Acrylonitrile Butadiene Styrene,ABS)或含有玻璃纤维的材料。基板1也可以是玻璃基板。
如图1A所示,基板1的上表面101形成有导电层2。形成导电层2的方式可采用例如铜膏印刷、喷涂(Spray coating)、无电镀法(electroless plating)或溅镀法(Sputtering)等常见的导电材料涂布法,也可采用粘贴导电胶带或铜箔等方式,但不以此为限。
接着,为了将导电层2进行图案化处理,以形成导电图案21于该基板1的上表面101,可对导电层2进行第一次的蚀刻处理。该蚀刻处理可以采湿式蚀刻的方式。详细而言,参考图1A至图1C,可先于导电层2上形成牺牲图案,例如图1B所示的第二牺牲图案7。第二牺牲图案7可使用干墨,而形成第二牺牲图案7的方式例如包括曝光及显影等程序。
然后,通过第二牺牲图案7蚀刻导电层2,也就是说,针对导电层2没有被第二牺牲图案7覆盖而裸露出来的部分进行蚀刻(例如,进行咬铜处理),以图案化导电层2。最后,再移除第二牺牲图案7。值得一提的是,在上述蚀刻导电层2的步骤中,裸露出来的导电层2仅有一部分的厚度被蚀刻,也就是说,裸露出来的导电层2仍然残留有一部分的厚度。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造