[发明专利]一种电子器件测试仪及其测试方法

权利要求书

1.一种电子器件测试仪，其特征在于：包括上位机、中央处理器模块、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块、功能检测模块以及检测接口模块；

所述上位机、驱动电源模块、液晶显示器、存储器模块、数据输出模块以及功能检测模块均与中央处理器模块相连；

所述功能检测模块包括可调电源模块、控制继电器、电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块；所述可调电源模块为直流稳压电源模块，其为电流检测模块、电压检测模块以及负载检测模块供电；

所述检测接口模块包括电流检测端口、电压检测端口以及负载检测端口。

2.根据权利要求1所述的一种电子器件测试仪，其特征在于：所述继电器为转换型继电器K1和K2，可调电源模块的供电端的负极分别与电流测试模块、电压测试模块和负载测试模块相连接；可调电源模块的供电端的正极与继电器K1的动触点相连，继电器K1的一个静触点与电流测试模块的相连，另一个静触点与继电器K2的动触点相连；同时，继电器K2的动触点与电压测试模块相连，其一个静触点与负载测试模块相连，另一静触点置空，所述继电器K1与K2由继电器电源供电；其中，所述电流检测端口与电流测试模块串联；电压检测端口一端与继电器K2的置空静触点相连，另一端与可调电源模块的负极相连；负载检测端口与负载检测模块串联。

3.根据权利要求1所述的一种电子器件测试仪，其特征在于：所述中央处理器模块由单片机和外围电路构成，用于对各种输入信号的分析处理，其中，所述单片机采用MSP430系列芯片。

4.利用如权利要求1所述的电子器件测试仪的测试方法，其特征在于：包括如下步骤：

1）将待测电子器件的测试端与检测接口模块的电流检测端口、电压检测端口或负载检测端口相连； 

2）待测电子器件与检测端口连接后，该检测端口对应电路的被接通，并将该接通信号传递给功能检测模块；再由功能检测模块传输至中央处理模块；

3）中央处理模块在接到检测端口电路接通的信号后，根据收到的端口接通信号，驱动可调电源模块，并对测试数据进行采集；

4）中央处理器模块采集到功能检测模块检测到的测试数据后，在外围电路和单片机作用下，将该测试数据转化为数字信号，然后把该数字信号传输给上位机、显示器、存储器模块以及数据输出模块；

5）上位机通过中央处理器能够实现对电子器件测试数据的读取、显示以及输出，当数据输出模块连接打印设备时，通过上位机能够对测试数据进行打印。