[发明专利]光学式触控感测装置及其触控信号判断方法

权利要求书

1.一种光学式触控感测装置，其特征在于，所述感测装置包括：

一光源模块，配置于一触控面，向所述触控面提供一检测光线；

至少一取像元件，沿着所述触控面取像以基于所述检测光线而获取一光学触控数据；以及

一处理单元，耦接所述至少一取像元件以接收所述光学触控数据，依据一辨识阀值来辨识所述光学触控数据以获得多个触控信号、所述触控信号所对应的多个触控坐标及多个遮蔽参数，比较所述触控坐标之间的一触控物间距是否小于或等于一手掌间距，

当所述触控信号之间的触控物间距小于或等于所述手掌间距时，比较所述触控信号所对应的所述遮蔽参数以选择所述遮蔽参数中的一最大遮蔽参数，并依据所述最大遮蔽参数及一面积阀值的关系以决定是否忽略所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号。

2.根据权利要求1所述的光学式触控感测装置，其特征在于，当所述触控信号之间的触控物间距小于或等于所述手掌间距时，所述处理单元比较所述触控信号的多个信号强度，且当所述信号强度之间的差值大于一信号强度阀值时，忽略较低的所述信号强度所对应的所述触控信号。

3.根据权利要求1所述的光学式触控感测装置，其特征在于，在获得所述触控信号及其所对应的所述触控坐标及对应的所述遮蔽参数后，所述处理单元统计所述触控信号的一数量，且当所述数量等于1时，依据所述触控信号执行一触控动作。

4.根据权利要求1所述的光学式触控感测装置，其特征在于，所述处理单元比较所述触控信号所对应的所述遮蔽参数以选择所述遮蔽参数中的一次大遮蔽参数，判断所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标及所述次大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标的一相对位置关系，当所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标位于所述次大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标下方时，忽略所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号。

5.根据权利要求1所述的光学式触控感测装置，其特征在于，所述感测装置还包括：

至少一边条，设置于所述触控面四周，用以反射、发散或吸收所述检测光线。

6.根据权利要求1所述的光学式触控感测装置，其特征在于，所述遮蔽参数是所述触控信号在所述光学触控数据上的一宽度值或利用所述至少两个取像元件所形成的一面积值。

7.一种光学式触控感测装置的触控信号判断方法，其特征在于，所述判断方法包括：

通过至少一取像元件而接收一触控面上基于一检测光线的一光学触控数据；

依据一辨识阀值来辨识所述光学触控数据以获得多个触控信号、所述触控信号所对应的多个触控坐标及多个遮蔽参数；

比较所述触控坐标之间的一触控物间距是否小于或等于一手掌间距；

当所述触控信号之间的触控物间距小于或等于所述手掌间距时，比较所述触控信号所对应的所述遮蔽参数以选择所述遮蔽参数中的一最大遮蔽参数；以及

当所述最大遮蔽参数大于一面积阀值时，忽略所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号。

8.根据权利要求7所述的触控信号判断方法，其特征在于，当所述触控信号之间的触控物间距小于或等于所述手掌间距时，还包括下列步骤：

比较所述触控信号的多个信号强度；以及

当所述信号强度之间的差值大于一信号强度阀值时，忽略较低的所述信号强度所对应的所述触控信号。

9.根据权利要求7所述的触控信号判断方法，其特征在于，获得所述触控信号及其所对应的所述触控坐标及对应的所述遮蔽参数后还包括：

统计所述触控信号的一数量；以及

当所述数量等于1时，依据所述触控信号执行一触控动作。

10.根据权利要求7所述的触控信号判断方法，其特征在于，所述判断方法还包括：

比较所述触控信号所对应的所述遮蔽参数以选择所述遮蔽参数中的一次大遮蔽参数；

判断所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标及所述次大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标的相对应关系；以及

当所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标位于所述次大遮蔽参数所对应的所述触控信号的所述触控坐标下方时，忽略所述最大遮蔽参数所对应的所述触控信号。

11.根据权利要求7所述的触控信号判断方法，其特征在于，所述遮蔽参数是所述触控信号在所述光学触控数据上的一宽度值或利用所述至少两个取像元件所形成的一面积值。