[发明专利]半导体装置

权利要求书

1.一种半导体装置，含有：

第1电路单元；

基准电压发生电路，其产生基准电压；

所述基准电压的采样保持电路；

采样保持控制电路，其控制所述采样保持电路；以及

多个第2电路单元，其输入由所述采样保持电路进行了采样保持的基准电压而进行动作，

所述半导体装置的特征在于，

当所述半导体装置在所述基准电压发生电路的电源噪声收敛于规定范围的状态下动作时，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作，当所述半导体装置在所述电源噪声超过规定范围的状态下动作时，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作。

2.根据权利要求1所述的半导体装置，其特征在于，

所述基准电压发生电路使用第1电源，所述第1电路单元使用第1电源或将所述第1电源降压后的电源，所述第2电路单元使用与所述第1电源相比绝对值更高压的第2电源。

3.根据权利要求2所述的半导体装置，其特征在于，

所述采样保持控制电路对所述基准电压发生电路的电源是否产生了规定的电源变动进行判断，在检测到规定的电源变动的情况下，针对该变动而在以规定的时间常数决定的期间中，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作，在没有检测到所述电源变动时，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作。

4.根据权利要求2所述的半导体装置，其特征在于，

所述采样保持控制电路在所述第1电路单元的规定动作的激活期间，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作，在所述规定动作的非激活期间，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作。

5.根据权利要求4所述的半导体装置，其特征在于，

所述第1电路单元是存储显示数据的存储器，

所述第2电路单元包括显示用电极驱动电路，该显示用电极驱动电路通过使用所述基准电压生成的多个驱动电压，来驱动显示用的扫描电极及信号电极，

所述采样保持控制电路是对所述存储器进行访问控制的逻辑电路，

所述规定动作的激活期间是由所述逻辑电路对所述存储器的访问期间。

6.一种半导体装置，含有：

第1电路单元；

基准电压发生电路，其产生基准电压；

所述基准电压的采样保持电路；

采样保持控制电路，其控制所述采样保持电路；以及

多个第2电路单元，其输入由所述采样保持电路进行了采样保持的基准电压而进行动作，

所述半导体装置的特征在于，

所述第2电路单元包括显示用电极驱动电路，该显示用电极驱动电路通过使用所述基准电压生成的驱动电压，生成用于驱动显示用的扫描电极及信号电极的多个驱动电压，

在对所述扫描电极及信号电极进行驱动的显示期间，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作，在非显示期间，所述采样保持控制电路指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作。

7.根据权利要求6所述的半导体装置，其特征在于，

所述第2电路单元还含有触摸检测控制电路，该触摸检测控制电路通过使用所述基准电压生成的电压，在所述非显示期间控制触摸面板的驱动及触摸检测。

8.一种半导体装置，含有：

第1电路块，其使用第1电源或对所述第1电源降压后的电源；以及多个第2电路块，其使用与所述第1电源相比绝对值更高压的电源，

所述半导体装置的特征在于，

所述第1电路块含有产生基准电压的基准电压发生电路，

所述第2电路块含有所述基准电压的采样保持电路，并使用由自身的采样保持电路进行了采样保持的基准电压进行动作，

所述第1电路块还含有逻辑电路，该逻辑电路在所述第1电路块自身的规定的内部电路的激活期间，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的保持动作，在所述内部电路的非激活期间，指示所述采样保持电路进行所述基准电压的采样动作。