[发明专利]太阳能电池组件局部光学性能测试方法与装置在审
申请号: | 201410510007.8 | 申请日: | 2014-09-28 |
公开(公告)号: | CN104241160A | 公开(公告)日: | 2014-12-24 |
发明(设计)人: | 屠智革;曹艳平;许靖琨;张军;李道云 | 申请(专利权)人: | 中国建材国际工程集团有限公司 |
主分类号: | H01L21/66 | 分类号: | H01L21/66 |
代理公司: | 上海硕力知识产权代理事务所 31251 | 代理人: | 王法男 |
地址: | 200061 上海市普*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 太阳能电池 组件 局部 光学 性能 测试 方法 装置 | ||
1.一种太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,包括固定待测太阳能电池组件的镂空网状结构件,镂空区域,遮挡板,设于所述镂空网状结构件内的内支撑遮挡板的支撑件和扶手,其中所述镂空网状结构件根据待测太阳能电池组件定制,以使得每块太阳能电池组件单元均有一一对应的所述镂空区域。
2.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,所述镂空网状结构件的每块所述镂空区域的尺寸等于或略大于相对应的待测太阳能电池组件单元的尺寸。
3.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,所述遮挡板的尺寸等于或略小于相对应的镂空网状结构件的单块镂空区域尺寸。
4.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,所述支撑件焊接于所述镂空网状结构件的单块所述镂空区域的四个底角,所述支撑件的底面与所述镂空网状结构件的底面平齐,并能托住所述遮挡板。
5.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,当所述遮挡板镶嵌于所述镂空网状结构件的单块所述镂空区域时,所述遮挡板的上表面与所述镂空网状结构件的支撑所述太阳能电池组件的部分处于一个平面。
6.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,所述镂空网状结构件的边框两侧分别设2个扶手。
7.如权利要求1所述的太阳能电池组件局部光学性能测试装置,其特征在于,形成所述镂空网状结构件,所述遮挡板,所述镂空网状结构件内的支撑所述遮挡板的所述支撑件和扶手的材料的强度足以支撑所述太阳能电池组件。
8.一种太阳能电池组件局部光学性能测试方法,其特征在于,包括如下步骤:
(a)当需要测量某块或多块太阳能电池组件单元的光学性能时,找到与之对应的镂空区域;
(b)在除该镂空区域不覆盖遮挡板外,其它所有地方均覆盖所述遮挡板;
(c)采用机械手或人工抬板的方式将待测太阳能电池组件放置于如权利要求1所述的测试装置内;及
(d)将装有所述待测太阳能电池组件的该测试装置放置于配有光学测试系统的测试台上方进行测试。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造