[发明专利]一种数据采集方法、装置及数据采集调试系统

说明书

本发明公开了一种数据采集方法、装置及数据采集调试系统，用以解决现有技术中采用计算机进行数据采集时导致的资源浪费以及将调试信息保存到设备内存时导致的重要数据丢失的问题，该装置包括：调试接口，用于与待测设备进行物理连接；微控制单元MCU，与调试接口相连，用于通过调试接口接收待测设备发送的调试信息，并将调试信息按照指定格式发送至数据存储单元；数据存储单元，与MCU相连，用于存储接收到的调试信息；电源管理单元，用于为数据采集装置供电。这样，可以脱离计算机独立运行，不需要人工值守，也不会造成资源浪费，通过独立的系统运行，提高了数据采集装置的稳定性，且可以保证待测设备的所有调试信息都进行采集。

技术领域

本发明涉及通信领域，尤其涉及一种数据采集方法、装置及数据采集调试系统。

背景技术

芯片开发过程中，都需要进行调试，在调试通过后，才能进行批量生产，然而，随着芯片的片上系统复杂度的不断提高以及操作系统的多样性趋势，调试手段是否有效直接跟生产效率相关，显得越来越重要。对于开发产品出现的低概率事件，需要耗费较长时间进行调试，在事件重现过程中，即整个调试过程，需要将产品调试过程中所有的调试数据记录并保存，以便研发人员根据调试数据获取一些关键信息，对产品进行优化。显然，而在芯片开发过程中调试数据信息的采集是必不可少的。

目前常用的调试数据信息采集方式包括以下三种：

(1)串口调试信息记录，需要把待调试芯片的串口连接到通用异步收发传输器(Universal Asynchronous Receiver/Transmitter，UART)接收端，通常是计算机的串口，或者是UART转通用串行总线(Universal Serial Bus，USB)的串口工具，最后通过计算机的工具抓取日志log信息并保存。

(2)安卓调试(Android Debug Bridge，ADB)调试信息记录，调试Android程序的有效手段，需要计算机安装ADB调试环境，并通过计算机端的USB口连接Android设备，对Android设备的log信息进行保存。

(3)将调试信息保存到设备内存，待调试设备进行系统调试时，将调试信息保存到设备的内存上。在保存调试信息时，只有系统完全启动以后才能进行。

例如，对开发的产品进行老化测试，对批次数量达50-100台的产品进行常温、高温以及低温条件下无故障运行48小时或72小时。在待调试产品样本数量较多时，采用串口调试信息记录和ADB调试信息记录这两种调试数据信息采集方式时，需要每台待调试产品都连接一台计算机，因此，会导致资源的浪费，且数据采集效率较低，而采用将调试信息保存到设备内存的调试数据信息采集方式时，由于必须在系统运行正常时才能采集调试信息，因此，会在系统运行异常时的很多重要的调试信息会丢失。

发明内容

本发明实施例提供一种数据采集方法、装置及数据采集调试系统，用以解决现有技术中采用计算机进行数据采集时导致的资源浪费以及采用将调试信息保存到设备内存时导致的重要数据丢失的问题。

本发明实施例提供的具体技术方案如下：

一种数据采集装置，包括：

调试接口，用于与待测设备进行物理连接；

微控制单元MCU，与调试接口相连，用于通过调试接口接收所述待测设备发送的调试信息，并将所述调试信息按照指定格式发送至数据存储单元；

数据存储单元，与MCU相连，用于存储接收到的所述调试信息；

电源管理单元，用于为所数据采集装置供电。