[发明专利]一种用于评估卫星深层充电的风险的方法有效
申请号: | 201410510523.0 | 申请日: | 2014-09-28 |
公开(公告)号: | CN105528507B | 公开(公告)日: | 2018-04-24 |
发明(设计)人: | 杨垂柏;张斌全;曹光伟;荆涛;孔令高;张珅毅;梁金宝;孙越强 | 申请(专利权)人: | 中国科学院空间科学与应用研究中心 |
主分类号: | G06F19/00 | 分类号: | G06F19/00 |
代理公司: | 北京方安思达知识产权代理有限公司11472 | 代理人: | 王宇杨,王敬波 |
地址: | 100190 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 评估 卫星 深层 充电 风险 方法 | ||
1.一种用于评估卫星深层充电的风险的方法,其特征在于:包括:
步骤1:将卫星内部需要评估的遮挡和部件抽样成平板结构或同轴型结构,并求得介质厚度值;
步骤2:以预定的时间间隔获取一个评估时间段内的高能电子输入数据;
步骤3:利用线性沉淀法公式计算每个时刻的不同能段在介质内的通量-深度和剂量率-深度的对应关系,并最后求得所有能段的总通量和总剂量率分布关系;
步骤4:依据步骤1中求得的介质厚度并根据步骤3中所计算出来的每个时刻的通量-深度对应关系和剂量率-深度的对应关系,利用以下方程组来获得介质中的电荷密度和电场分布:
Jt(x,t)=Jde(x,t)+Jin(x,t)(1)
其中,Jt(x,t)为x深度处t时刻的总电流密度;Jde(x,t)为x深度处t时刻电子在介质中的由通量-深度对应关系得出的空间电流密度,从步骤3得到;Jin(x,t)为t时刻由周围介质层面流入到x深度处的电流密度,由对应于与本介质层相邻的介质分层在步骤4求得;Et(x)和Et-1(x)分别为t时刻及之前时刻电场强度,τt和σt分别为待评估的深层充电介质的t时刻介质时间常数和介质电导率,Δt为计算时间步长,σ0为介质本征电导率,σD为辐射诱发电导率,k和Δ为辐射诱发电导率的系数和指数,为剂量率-深度对应关系;
步骤5:根据步骤4中的计算结果,整理所有时刻的介质内电场分布,以获得每个时刻电场强度最大值Et,max;及
步骤6:采用步骤5中得到的每个时刻介质内电场强度最大值Et,max,分析在整个待评估的时间段内所有时刻的介质内电场强度最大值,将其与介质所能承受的放电电场强度最大阈值进行比较,如果大于该阈值,则放电风险较大,否则放电风险小。
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