[发明专利]一种干涉仪阵列综合校准方法有效
申请号: | 201410513334.9 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN104297718B | 公开(公告)日: | 2017-04-12 |
发明(设计)人: | 踪念科;张蓬;钟兴旺;王登峰;杨瑞强;蔡春贵 | 申请(专利权)人: | 西安空间无线电技术研究所 |
主分类号: | G01S3/02 | 分类号: | G01S3/02 |
代理公司: | 中国航天科技专利中心11009 | 代理人: | 安丽 |
地址: | 710100 陕*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 干涉仪 阵列 综合 校准 方法 | ||
1.一种干涉仪阵列综合校准方法,其特征在于:包括建立误差模型阶段、获取测量方程阶段、求解误差参数阶段和获取测角校准结果阶段;
所述建立误差模型阶段步骤如下:
(1)在干涉仪阵面上建立测量坐标系,选取干涉仪阵面上一个阵元作为干涉仪测量坐标系原点O,以理想的方位基线作为Y轴,以理想的俯仰基线作为Z轴,通过右手法则确定X轴;定义目标入射方向与XOY面的夹角为俯仰角θ,定义目标入射方向在XOY平面上的投影与XOZ面的夹角为方位角φ;
(2)在所述步骤(1)建立的干涉仪测量坐标系中,设目标初始入射方位角为φ0、初始入射俯仰角为θ0;设干涉仪阵列中共有M个阵元,第0个阵元位于原点O处,第i个阵元位于理想方位基线中,第j个阵元位于理想俯仰基线中,i,j=1,2,...,M-1且i≠j,第i阵元相对于理想位置存在X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差,分别为Δxi,Δyi,Δzi、第j阵元相对于理想位置存在X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差分别为Δxj,Δyj,Δzj;另外,每个阵元的接收信号通过各自的馈线通道进入干涉仪信号处理器,馈线通道之间并不严格等长,若以第0个阵元的馈线通道为参考长度,则将第i、j阵元的馈线通道相对于第0阵元的馈线通道综合误差分别设为Δdi、Δdj;分别将Δxi,Δyi,Δzi,Δdi,θ0,φ0、Δxj,Δyj,Δzj,Δdj,θ0,φ0作为方位基线、俯仰基线的六个未知参数,建立干涉仪方位基线、俯仰基线的相差方程:
式中,i,j=1,2,...,M-1且i≠j,Li为第i阵元方位基线设计长度,Lj为第j阵元俯仰基线设计长度,为方位基线的干涉仪相差测量值,为俯仰基线的干涉仪相差测量值,λ为入射信号的波长;
(3)将干涉仪安装在精密伺服机构或架设在精密转台上,通过调整干涉仪的位置,使所述步骤(1)建立的干涉仪测量坐标系的Z轴与精密伺服机构或精密转台的方位转轴重合,使所述步骤(1)建立的干涉仪测量坐标系的Y轴和精密伺服机构或精密转台的俯仰转轴平行;保持目标入射方向不变,使干涉仪分别绕测量坐标系Z轴和Y轴旋转角度δφ、δθ,经坐标转换后,将所述步骤(2)中的干涉仪方位基线相差方程和俯仰基线相差方程,通过坐标旋转,得到以旋转量δφ、δθ为基本已知量的方位基线、俯仰基线六参数相差模型:
式中,i,j=1,2,...,M-1且i≠j;
所述获取测量方程阶段步骤如下:
(4)控制伺服机构或转台依次旋转δφk,δθk的精密步进角度,k表示第k次旋转,0≤k≤N-1,N表示旋转次数,N≥0,在每个步进角度上驻留一定时间,采集所述当前精密步进角度对应的干涉仪相差测量值;
(5)对所述步骤(4)中每段驻留时间内采集的干涉仪相差测量值求均值,得到对应步进角度上方位基线相差测量值俯仰基线相差测量值
(6)将所述步骤(5)处理得到的相差测量值代入所述步骤(3)中方位基线、俯仰基线六参数相差模型,得到方位基线、俯仰基线非线性六参数相差测量方程组:
式中,i,j=1,2,...,M-1且i≠j,xi=[Δxi,Δyi,Δzi,Δdi,θ0,φ0]T表示第i阵元待求的参数,xj=[Δxj,Δyj,Δzj,Δdj,θ0,φ0]T表示第j阵元待求的参数,wik、wjk表示相差采集引入的测量噪声;分别表示经过k步旋转后的方位基线、俯仰基线六参数相差方程,形式如下:
式中,0≤k≤N-1,l表示第l次旋转,0≤l≤k,δφl为第l次方位向精密步进角度,δθl为第l次俯仰向精密步进角度;
所述求解误差参数阶段步骤如下:
(7)将步骤(6)得到的非线性六参数相差测量方程组,在初值xi0、xj0处线性化,对第i阵元中xi赋初值xi0,xi0=[Δxi0,Δyi0,Δzi0,Δdi0,θ00,φ00]T,其中Δxi0、Δyi0、Δzi0为X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差的初值,Δdi0为馈线通道综合误差的初值,θ00为俯仰初始入射角的初值,φ00为方位初始入射角的初值,在初值xi0处对所述步骤(6)中方位基线非线性六参数相差测量方程组进行一阶泰勒展开,得到方位基线线性化方程组,写成矢量形式:
式中Αi为一阶偏导数矩阵,形式如下:
为相差残差,形式如下:
dxi为初值xi0的修正量;
wi=[wi0,wi1,…wiN-1]T为测量噪声;
同理,对第j阵元中xj赋初值xj0,xj0=[Δxj0,Δyj0,Δzj0,Δdj0,θ00,φ00]T,其中Δxj0、Δyj0、Δzj0为X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差的初值,Δdj0为馈线通道综合误差的初值,θ00为俯仰初始入射角的初值,φ00为方位初始入射角的初值,在xj0处对所述步骤(6)中俯仰基线非线性六参数相差测量方程组进行一阶泰勒展开,得到俯仰基线线性化方程组,写成矢量形式:
式中,Αj为一阶偏导数矩阵,形式如下:
为相差残差,形式如下:
dxj为初值xj0的修正量,i,j=1,2,...,M-1且i≠j;wj=[wj0,wj1,…wjN-1]T为测量噪声;
(8)根据加权最小二乘法求出步骤(7)中方位基线、俯仰基线线性化方程组的最小二乘解,该解即为初值xi0、xj0的修正量dxi、dxj:
式中Pi、Pj为最小二乘加权矩阵,i,j=1,2...M-1且i≠j;
(9)根据所述步骤(8)得到的线性化六参数相差测量方程组的解,判断解算终止条件,如果最小二乘解的绝对值|dxi|、|dxj|小于设定的干涉仪阵列校准精度,则初值xi0、xj0即为非线性六参数相差测量方程组的解;如果最小二乘解的绝对值|dxi|、|dxj|大于等于设定的干涉仪阵列校准精度,利用最小二乘解对初值xi0、xj0进行修正,得到修正量x′i0,x′j0,利用修正后的x′i0,x′j0替换步骤(7)中的xi0、xj0,重新执行所述步骤(7)、(8)、(9),直至dxi、dxj满足干涉仪阵列校准精度要求,初值xi0、xj0的修正公式如下:
x′i0=xi0+dxi
x′j0=xj0+dxj
式中i,j=1,2,...,M-1且i≠j;
本步骤最终得到第i个阵元对应的综合误差项
xi0=[Δxi0,Δyi0,Δzi0,Δdi0,θ00,φ00]T,第j个阵元对应的综合误差项
xj0=[Δxj0,Δyj0,Δzj0,Δdj0,θ00,φ00]T,即第i阵元在X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差分别为Δxi0,Δyi0,Δzi0、馈线通道综合误差为Δdi,第j阵元在X轴、Y轴、Z轴三个方向的加工安装综合误差分别为Δxj0,Δyj0,Δzj0、馈线通道综合误差为Δdj;
所述获取测角校准结果阶段步骤如下:
(10)将步骤(9)中获取的全部综合误差项Δxi0,Δyi0,Δzi0,Δdi0、Δxj0,Δyj0,Δzj0,Δdj0,代入所述步骤(3)的方位、俯仰基线的相差测量方程,同时引入方位基线干涉测量时的噪声项wi,俯仰基线干涉测量时的噪声项wj,得到带有噪声的以旋转量δφ、δθ为基本已知量的方位基线、俯仰基线六参数相差方程:
式中,为干涉测量得到的带有噪声的方位相差、俯仰相差;
(11)通过对步骤(10)中多个基线干涉相差测量结果进行运算,合成一条虚拟基线干涉相差测量结果,合成后的虚拟基线一般不大于入射信号的半波长λ/2,利用合成后的相差测量结果,实现无模糊测角解算,对于步骤(10)中方位基线相差测量方程,若i=m和i=n,m<n,1≤m≤M-1,1≤n≤M-1时,通过运算合成一条短虚拟基线,运算算子为Hi(),则对应的方位虚拟基线相差测量方程写为:
Δxn0,Δyn0,Δzn0,Δdn0,Ln,wn分别对应i=n时的Δxi0,Δyi0,Δzi0,Δdi0,Li,wi;
Δxm0,Δym0,Δzm0,Δdm0,Lm,wm分别对应i=m时的Δxi0,Δyi0,Δzi0,Δdi0,Li,wi;
同理,对于所述步骤(10)中俯仰基线相差测量方程,若j=p和j=q,p<q,1≤p≤M-1,1≤q≤M-1时合成一条短虚拟基线,运算算子为Hj(),则写出俯仰虚拟基线相差测量方程:
Δxq0,Δyq0,Δzq0,Δdq0,Lq,wq分别对应j=q时的Δxj0,Δyj0,Δzj0,Δdj0,Lj,wj;
Δxp0,Δyp0,Δzp0,Δdp0,Lp,wp分别对应j=p时的Δxj0,Δyj0,Δzj0,Δdj0,Lj,wj;
(12)在步骤(11)得到的方位、俯仰虚拟基线相差测量方程中,从方位相差俯仰相差中分别减去2πHi(Δdn0,Δdm0)/λ,2πHj(Δdq0,Δdp0)/λ,并将相减结果归算到(-π,π]主值区间,得到如下无整周模糊方位、俯仰基线相差测量方程组:
式中<>符号表示归算到(-π,π]主值区间;w1=Hi(wn,wm),w2=Hj(wq,wp);式中f1(θ,φ)、f2(θ,φ)定义如下:
(13)定义矢量y=[θ,φ]T,对y赋初值y0,此处为俯仰角初值,为方位角初值,在y0附近对步骤(12)中无整周模糊方位、俯仰基线相差测量方程组进行一阶泰勒展开,得到线性化无模糊相差测量方程组,写成矢量形式:
u≈B|y=y0dy+w
式中,u为无模糊的相差测量残差,形式如下:
B为无模糊相差测量方程组一阶偏导数矩阵,形式如下:
dy=[dθ,dφ]T表示y0的修正变量;w=[w1,w2]T为测量噪声;
(14)对所述步骤(13)得到的无模糊相差测量方程组直接求逆,可得步骤(13)中初值y0的修正变量dy:
dy=B-1u
(15)根据所述步骤(14)得到的线性化无模糊相差测量方程组的解,判断解算终止条件,如果线性化无模糊相差测量方程组的解的绝对值|dy|小于允许的干涉仪测角精度,则初值y0即为非线性无模糊相差测量方程组的解;如果线性化无模糊相差测量方程组的解的绝对值|dy|大于等于设定的干涉仪测角精度,利用dy对初值y0进行修正,得到修正值y′0,用y′0替换所述步骤(13)中的初值y0,重新执行所述步骤(13)、(14)、(15),直至dy满足设定的干涉仪测角精度,对初值y0的修正公式如下:
y′0=y0+dy
该步骤最终得到校准后的干涉仪测角值即干涉仪测角校准后的俯仰角为校准后的方位角为
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于西安空间无线电技术研究所,未经西安空间无线电技术研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410513334.9/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。