[发明专利]电子装置及其管理方法在审
申请号: | 201410514410.8 | 申请日: | 2014-09-29 |
公开(公告)号: | CN105528177A | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 林俊裕 | 申请(专利权)人: | 晨星半导体股份有限公司 |
主分类号: | G06F3/06 | 分类号: | G06F3/06;G06F12/02 |
代理公司: | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人: | 徐伟 |
地址: | 中国台湾新竹县*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 电子 装置 及其 管理 方法 | ||
技术领域
本发明与电子产品中的存储器的管理技术相关。
背景技术
在各种电子产品中,有愈来愈多的功能是透过软件程序达成。为了确保电 子产品正常运作,制造者在产品出厂前都会进行测试程序,希望能揪出软件程 序中的缺陷并预先补救。举例而言,测试人员可能会刻意长时间执行某个应用 程序,以检查该应用程序是否存在会持续不合理占用存储器空间的存储器泄漏 (memoryleak)问题。
图1呈现一现行电子装置的局部功能方块图。当负责执行某项任务的应用 程序的工作模块11需要使用存储器12时,工作模块11会对存储器应用程序 编程接口(applicationprogramminginterface,API)13发送一使用请求。根据存储 器12目前的可用空间大小,存储器应用程序编程接口13会决定是否应准许该 使用请求。若该使用请求被准许,存储器应用程序编程接口13会相对应地分 派一可用的存储器空间给工作模块11,并将与此次使用请求相关的各种信息存 入数据库14。测试人员便是根据数据库14储存的信息来判断工作模块11所执 行的应用程序是否存在与存储器12相关的缺陷。
实务上,上述电子装置中可能有许多个同时运作的应用程序,每个应用程 序又可能各自同时执行多个工作任务。在现行技术中,各个针对存储器12发 送的使用请求的相关信息都会被加载数据库14。在这个情况下,写入数据库 14的信息非常庞杂,因而需要容量相当大的数据库14。另一方面,现行的电 子装置大多被设计为只能在其整体运作告一段落时才能取出数据库14的内容, 加以检视分析。这种不具时效性的设计方式导致测试人员无法实时发现应用程 序的缺陷,且每次进行分析时都必须处理累积一段时间后产生的大量信息。
发明内容
为解决上述问题,本发明提出一种新的电子装置及其管理方法。藉由采用 适当的过滤机制,被存入数据库的存储器使用信息可被大幅减少,以节省需要 的数据库容量。此外,根据本发明的电子装置及管理方法提供了自动监测的功 能,藉此提高测试流程的效率。本发明的概念可应用在各种需要使用存储器的 电子装置。
根据本发明的一具体实施例为一种使用一存储器的电子装置,其中包含一 工作模块、一管理模块、一数据库与一过滤模块。当该工作模块于执行一工作 任务时需要使用该存储器,该工作模块发出一使用请求。该管理模块系用以判 断是否应准许该使用请求。若该使用请求被准许,该管理模块根据该使用请求 产生一请求数据群集。该过滤模块系用以自该管理模块接收该请求数据群集, 并根据一预设过滤条件决定是否将该请求数据群集存入该数据库。
根据本发明的另一具体实施例为一种应用于一电子装置的管理方法。该电 子装置包含一数据库并使用一存储器。该管理方法首先执行一接收步骤,接收 针对该存储器发出的一使用请求,其中该使用请求与一工作任务相关。接着, 该管理方法执行一判断步骤,判断是否应准许该使用请求。若该使用请求被准 许,一请求数据群集根据该使用请求被产生。接着,根据一预设过滤条件,该 请求数据群集被决定是否应存入该数据库。
关于本发明的优点与精神可以藉由以下发明详述及所附图式得到进一步 的了解。
附图说明
图1呈现一现行电子装置的局部功能方块图。
图2为根据本发明的一实施例中的电子装置的功能方块图。
图3呈现根据本发明的电子装置进一步包含一监测模块的实施例。
图4呈现根据本发明的电子装置进一步包含一区段记录模块的实施例。
图5为根据本发明的一实施例中的管理方法的流程图。
图6呈现可配合图5的管理方法实现的一种后续流程范例。
须说明的是,本发明的图式包含呈现多种彼此关联的功能性模块的功能方 块图。该等图式并非细部电路图,且其中的连接线仅用以表示信号流。功能性 组件及/或程序间的多种互动关系不一定要透过直接的电性连结始能达成。此外, 个别组件的功能不一定要如图式中绘示的方式分配,且分布式的区块不一定要 以分布式的电子组件实现。
符号说明
11:工作模块12:存储器
13:存储器应用程序编程接口14:数据库
200:电子装置21:工作模块
22:存储器23:管理模块
24:数据库25:过滤模块
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