[发明专利]一种电视机屏参测量仪及测量方法

说明书

技术领域

本发明涉及电视技术领域，特别涉及一种电视机屏参测量仪及测量方法。  

背景技术

目前测量屏参时序时常采用示波器进行测量。使用示波器测量时，需要多次测量各个时序参数，如T1、T2、T3等（各时序参数T的含义为现有技术），每次测量时需要重新设置采样率，放大倍数，触发电压等参数。一个时序参数的测量往往需要多次尝试才能设置好合适的参数，而每次测试都需要对电视机进行一次开关机操作。测完所有时序参数需要开关机电视几十次甚至上百次，导致测试操作很繁琐、还大大延长了测试时间。同时，多次开关机也会对电视机的相关硬件模块造成磨损，影响使用寿命。 

发明内容

鉴于上述现有技术的不足之处，本发明的目的在于提供一种电视机屏参测量仪及测量方法，以解决现有电视机屏参测量需多次开关机、多次设置参数导致操作繁琐、测试时间较长的问题。 

为了达到上述目的，本发明采取了以下技术方案： 

一种电视机屏参测量仪，与电视机的机芯板连接，其包括信号处理模块和MCU；

信号处理模块采集机芯板上的所有输入信号，对输入信号进行电压调整后传输给MCU；所述MCU对调整后的输入信号进行AD采样，判断电视机的状态，并计算出电视机不同状态时对应的时序参数。

所述的电视机屏参测量仪，其还包括缓存模块，用于对MCU采样的数据进行缓存，检测所有采样数据缓存完后、上传所述采样数据至MCU进行数据处理。 

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述信号处理模块包括： 

第一处理单元，用于对所述输入信号中的PANEL VCC信号进行衰减处理后传输至MCU ；

第二处理单元，用于对所述输入信号中的LVDS COLCK信号的电压幅度进行放大后传输至MCU；

传输单元，用于将所述输入信号中的BACK LIGHT信号和PWM信号传输给MCU。

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述第一处理单元包括一级衰减电路和二级衰减电路； 

所述一级衰减电路对PANEL VCC信号进行2倍反向衰减，二级衰减电路对衰减后的PANEL VCC信号进行2倍反向衰减后输出。

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述一级衰减电路包括第一电阻、第二电阻和第一运算放大器，所述第一运算放大器的正向输入端接地，第一运算放大器的反向输入端通过第一电阻连接机芯板，所述第一运算放大器的输出端连接二级衰减电路、还通过第二电阻连接第一运算放大器的反向输入端。 

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述二级衰减电路包括第三电阻、第四电阻和第二运算放大器，所述第二运算放大器的正向输入端接地，第二运算放大器的反向输入端通过第三电阻连接第一运算放大器的输出端，所述第二运算放大器的输出端连接、还通过第四电阻连接第二运算放大器的反向输入端。 

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述第二处理单元包括第五电阻、第六电阻和第三运算放大器，所述第三运算放大器的正向输入端连接机芯板，第三运算放大器的反向输入端通过第六电阻接地、还通过第五电阻连接第三运算放大器的输出端和MCU。 

所述的电视机屏参测量仪，其中，所述MCU为一单片机，所述单片机的PA0_WKUP脚连接第一处理单元，单片机的PA1脚连接第二处理单元， 单片机的PA2脚、PA3脚均连接传输单元。 

一种电视机屏参测量仪的测量方法，其包括： 

信号处理模块采集机芯板上的所有输入信号，对输入信号进行电压调整后传输给MCU；

MCU对调整后的输入信号进行AD采样，判断电视机的状态，并计算出电视机不同状态时对应的时序参数。

所述的测量方法，其中，所述MCU对调整后的输入信号进行AD采样，判断电视机的状态，并计算出电视机不同状态时对应的时序参数的步骤具体包括： 

对调整后的输入信号进行AD采样；

判断PANEL VCC1信号的波形是否由低电平变为高电平；

若是，则计算开机的各时序参数；

若不是，则判断PANEL VCC1信号的波形是否由高电平变为低电平；若是，则计算关机的各时序参数。