[发明专利]电路和由电路执行的方法

权利要求书

1.一种由电路执行的方法，包括：

使用包含比较器的SAR ADC执行位试验，以将模拟输入信号转换成数字输出信号；

完成所述位试验后，由所述比较器以剩余误差作为所述比较器的输入执行多个比较器决定；

基于比较器决定，测量所述比较器的输入处的剩余电压；以及

基于测量的剩余误差值调整数字输出信号。

2.根据权利要求1所述的方法，其中测量剩余电压包括统计计算剩余误差值。

3.根据权利要求2所述的方法，其中统计计算剩余误差值包括计算对剩余误差输入的比较器决定的概率。

4.根据权利要求3所述的方法，其中统计计算剩余误差值还包括根据SAR ADC的噪声的累积分布函数使比较器决定的概率与相应的剩余误差值相匹配。

5.根据权利要求4所述的方法，其中所述SAR ADC的噪声的累积分布函数在SAR ADC的校准期间进行测量。

6.根据权利要求4所述的方法，其中所述SAR ADC的噪声的累积分布函数是预编程的。

7.一种由电路执行的方法，包括：

使用SAR ADC执行常规位试验以从ADC的最高有效位MSB到预定低有效位将模拟输入信号转换成数字输出信号；

除了常规位试验之外，以等于和/或小于预定低有效位试验的幅度执行选择常规位试验的重复位试验；以及

将所述常规位试验和所述重复位试验的结果基于其对应位权求和以生成数字输出信号。

8.根据权利要求7所述的方法，其中所述预定低有效位是最低有效位LSB。

9.根据权利要求7所述的方法，还包括执行预定数量的重复位试验。

10.根据权利要求7所述的方法，执行所述重复位试验直到达到阈值。

11.根据权利要求10所述的方法，其中所述阈值包括在SAR ADC越过比较器阀值的DAC输出。

12.根据权利要求8所述的方法，其中所述重复位试验的幅度是LSB幅度的一半。

13.根据权利要求7所述的方法，其中所述重复位试验是次噪声等级重复试验。

14.根据权利要求7所述的方法，其中所述重复位试验的幅度按比例减小。

15.根据权利要求7所述的方法，其中所述重复位试验与预定低有效位的幅度相同。

16.一种由电路执行的方法，包括：

使用比较器从数字字的最高有效位MSB到预定低有效位执行常规位试验；

以等于和/或小于预定低有效位试验的幅度执行选择常规位试验的重复位试验；

将常规位试验和重复位试验的结果基于其对应位权求和以生成数字输出信号；

通过由用于执行所述常规位试验的所述比较器以剩余误差作为输入执行多个比较器决定来测量剩余误差；和

基于测量的剩余误差调整数字输出信号。

17.根据权利要求16所述的方法，其中使用SAR ADC执行所述方法并且所述剩余误差在SAR ADC的比较器输入处被测量。

18.根据权利要求16所述的方法，其中所述重复位试验的幅度是最低有效位LSB幅度的一半。

19.根据权利要求16所述的方法，其中所述重复位试验是次噪声等级重复试验。