[发明专利]一种探针块及检测装置

说明书

技术领域

本发明涉及显示、检测技术领域，尤其涉及一种探针块及检测装置。

背景技术

在液晶面板制造过程中，成盒工艺是将制作完成的彩膜玻璃和阵列玻璃进行贴合，经过切割后得到特定尺寸的液晶面板，为降低成本，多数厂家选择在成盒后、贴偏光膜前对面板进行点灯检查，在此阶段中可以检测出液晶面板是否有坏点，如：亮点或暗点。

点灯检查时，首先将液晶面板10固定在检查基台上，如图1所示，探针块11中的覆晶薄膜(Chip On Film，COF)103与液晶面板10的焊线盘(未示出)进行搭接，这样覆晶薄膜中的信号线路与液晶面板的线路连接，其中，COF指将集成电路(Integrated Circuit，IC)固定于柔性线路板上的晶粒软膜。COF103中包括多条连接线111，柔性电路(Flexible Printed Circuit，FPC)101中包括多条连接线112，连接线111与连接线112一一对应连接，当对液晶面板进行点灯检查时，与FPC 101连接的信号发生器12给FPC 101中的每一条连接线112输入信号点亮液晶面板。由于COF 103中的线路与液晶面板的焊线盘中的线路对位不能保证100％准确，存在少数出现对位偏差，导致线路短路的情况，由于信号发生器12输出到FPC 101的信号中有部分信号的电压较强，进而输入到COF 103的电压也较强，如果此时线路有短路现象存在，就会导致COF 103的烧毁。COF烧毁后液晶面板点灯会出现异常显示的现象，该现象排查比较困难，调整起来耗时较长，另COF烧毁的探针块维修困难，探针块的维修时间长，维修费用较高。

综上所述，现有技术对液晶面板进行点灯检查时探针块容易烧毁，且烧毁的探针块维修困难，维修时间长，维修费用高。

发明内容

本发明实施例提供了一种探针块及检测装置，用以降低探针块烧毁的风险，提高探针块的利用率。

本发明实施例提供的一种探针块，包括：覆晶薄膜和柔性电路，所述覆晶薄膜包括若干与液晶面板焊线盘中的线路搭接的第一连接线，所述柔性电路包括若干与信号发生器中的线路连接的第二连接线，该探针块还包括连接器，

所述连接器包括若干与一所述第一连接线和一所述第二连接线对应连接的第三连接线，至少一条所述第三连接线上设置有防电流过载器件，

所述防电流过载器件设置在有高电平输入的所述第三连接线上，用于降低所述高电平，或直接断开所述第三连接线。

由本发明实施例提供的探针块，由于探针块包括连接器，该连接器包括若干与一所述第一连接线和一所述第二连接线对应连接的第三连接线，至少一条所述第三连接线上设置有防电流过载器件，所述防电流过载器件设置在有高电平输入的所述第三连接线上，用于降低所述高电平，或直接断开所述第三连接线，当覆晶薄膜中的线路与液晶面板的焊线盘中的线路对位出现偏差时，能够降低输入到覆晶薄膜的电平信号，因此，能够减少覆晶薄膜的烧毁，保护覆晶薄膜，即降低探针块烧毁的风险，提高探针块的利用率。

较佳地，所述防电流过载器件包括配额电阻或保险丝。

这样，配额电阻或保险丝在实际器件设计中更加简单、方便。

较佳地，当所述防电流过载器件包括配额电阻时，所述第一连接线上的电平信号是经过所述防电流过载器件降低后的电平信号。

这样，经过防电流过载器件降低后的电平信号输入到覆晶薄膜中，能够减少覆晶薄膜的烧毁风险，保护覆晶薄膜。

较佳地，所述覆晶薄膜还包括与所述液晶面板焊线盘中的线路搭接的探针。

这样，通过探针与液晶面板的焊线盘搭接，能够更准确的进行点灯检查。

较佳地，所述探针块还包括用于保护该探针块的探针块外壳。

这样，探针块外壳能够更好的保护所述探针块。

较佳地，所述连接器设置在所述柔性电路和所述覆晶薄膜之间的探针块外壳上。

这样，在实际设计中更加方便、简单。

较佳地，所述连接器还包括对位孔和固定螺丝，所述探针块外壳包括定位销，所述对位孔与所述定位销进行对位连接后，所述固定螺丝用于固定所述定位销。

这样，通过对位孔、固定螺丝以及定位销的设计可以提高连接器固定在探针块外壳的稳定性。

本发明实施例还提供了一种检测装置，包括检测信号发生器，该装置还包括上述的探针块。

由于本发明实施例提供的检测装置包括上述的探针块，因此该装置用于液晶面板点灯检查时能够降低探针块烧毁的风险，提高探针块的利用率。

附图说明