[发明专利]用于测量与半导体开关器件有关的开关损耗的系统和方法有效
| 申请号： | 201410524364.X | 申请日： | 2014-10-08 |
| 公开（公告）号： | CN104569648B | 公开（公告）日： | 2020-07-10 |
| 发明（设计）人： | 陈清麒;克利须那·普拉萨德·巴特;迈克尔·W·德格尼尔;邹轲 | 申请（专利权）人： | 福特全球技术公司 |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00 |
| 代理公司： | 北京连和连知识产权代理有限公司 11278 | 代理人： | 李钦鹏 |
| 地址： | 美国密歇根州迪尔*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 用于 测量 半导体 开关 器件 有关 损耗 系统 方法 | ||
【权利要求书】：
1.一种用于测量与半导体开关器件有关的开关损耗的方法，其特征在于，包含：
使用半导体开关器件的开关损耗信息控制车辆，开关损耗信息来源于与半导体开关器件相关的传导损耗以及传导和开关损耗的结合，其中所述方法包括在传导循环中操作半导体开关器件的电路，计算与电路有关的传导损耗，在传导和开关循环中操作电路，计算与电路有关的传导和开关损耗的结合。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，控制步骤包括修改被传送用以冷却半导体开关器件的冷却量。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包含通过以下步骤计算传导损耗以及传导和开关损耗的结合：
用来自电容的能量给电感充电；
执行多个开关循环；以及
从电感释放能量至电容。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，包含测量每个充电步骤、执行步骤和放电步骤期间与电容和电感有关的电压和电流。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，包含通过从传导和开关损耗的结合中减去传导损耗得到开关损耗信息。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于福特全球技术公司，未经福特全球技术公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201410524364.X/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种LED灯驱动电源测试系统
- 下一篇：电压感测系统和方法
