[发明专利]包络检测装置以及相关的通信装置

权利要求书

1.一种包络检测装置，用以检测一高速串行通信中一传输信号，包含：

一运算电路，接收该传输信号，并根据该传输信号与至少一参考信号来产生一组运算输出；

一参考信号产生电路，耦接该运算电路，用以提供该参考信号给该运算电路，其中该参考信号产生电路可提供具有不同电平的该参考信号；以及

一比较电路，耦接该运算电路，用以比较该组运算输出，产生一比较结果；

其中，该包络检测装置根据基于不同电平的该参考信号所产生的该比较结果，检测出该高速串行通信的传输状态以及断线状态；

该传输信号为一差动信号，由一组互补信号所形成，且该运算电路包含有一第一晶体管差动对，该第一晶体管差动对包含：

一第一晶体管，具有一控制端，该控制端耦接至该组互补信号中的一第一传输信号；以及

一第二晶体管，具有一控制端，该控制端耦接至该组互补信号中的一第二传输信号；

其中该组运算输出由该第一晶体管的一第一端与该第二晶体管的一第一端的电平所分别决定。

2.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该高速串行通信为一通用串行总线通信。

3.如权利要求2所述的包络检测装置，其特征在于，该传输状态为静噪状态与Chirp J/K状态中之一，或包含以上两者。

4.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该运算电路还包含有一第二晶体管差动对，该第二晶体管差动对包含：

一第三晶体管，具有一第一端，该第三晶体管的第一端耦接至该第一晶体管的第一端；以及

一第四晶体管，具有一第一端，该第四晶体管的第一端耦接至该第二晶体管的第一端；

其中该参考信号产生电路另产生一第一参考信号与一第二参考信号，并且该第三晶体管的一控制端耦接于该第一参考信号，该第四晶体管的一控制端耦接于该第二参考信号；该组运算输出由该第一晶体管的第一端与该第二晶体管的第一端所分别提供。

5.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该运算电路还包含有一第二晶体管差动对，该第二晶体管差动对包含：

一第三晶体管，具有一第一端，该第三晶体管的第一端耦接至该第一晶体管的第一端；以及

一第四晶体管，具有一第一端，该第四晶体管的第一端耦接至该第二晶体管的第一端；

其中该第三晶体管的一控制端耦接于地，该第四晶体管的一控制端耦接于该参考信号；该组运算输出由该第一晶体管的第一端与该第二晶体管的第一端所分别提供。

6.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该参考信号产生电路为一受控电压源，该受控电压源的一第一端点与一第二端点之间所提供的一电位差为该参考信号，且该第一晶体管的第一端以及该第二晶体管的第一端，分别耦接于该受控电压源的该第一端点，该组运算输出由该第一晶体管的第一端以及该受控电压源的该第二端点所分别提供。

7.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该参考信号产生电路包含有一电阻网路以及一定电流源，该电阻网路包含有多个节点，该参考信号产生电路透过控制该些节点与该参考信号产生电路的一输出端的连接关系，决定该参考信号的电平。

8.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，该参考信号产生电路包含有一电阻元件以及一可调电流源，该参考信号产生电路透过调整该可调电流源的电流，决定该参考信号的电平。

9.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于该参考信号产生电路在该高速串行通信的不同操作阶段中产生具有不同电平的该参考信号。

10.如权利要求1所述的包络检测装置，其特征在于，另包含：

一逻辑电路，耦接至该比较电路，用以接收该比较结果，以产生一状态指示信号，指出该高速串行通信的传输状态以及断线状态。