[发明专利]一种OLED显示器的自校验驱动方法在审
申请号: | 201410537835.0 | 申请日: | 2014-10-11 |
公开(公告)号: | CN104252846A | 公开(公告)日: | 2014-12-31 |
发明(设计)人: | 黎守新 | 申请(专利权)人: | 成都晶砂科技有限公司 |
主分类号: | G09G3/32 | 分类号: | G09G3/32 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 610041 四川省成都市*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 oled 显示器 校验 驱动 方法 | ||
1.一种OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,所述方法包括如下步骤:
a) OLED显示器每隔一个单位周期对OLED屏进行采样;
b) 在采样期间,测量阈值电压和/或OLED的中间电压;
c) 建立OLED屏的每个子像素与测量到的阈值电压和/或OLED中间电压的对应关系;
d) 对采样获得的每个子像素的阈值电压/或OLED中间电压进行加权均值和/或均值和/或差值计算,得到每个像素的校正和补偿值,并对其进行保存;
e) 将每个子像素的校正和补偿值与实际显示的图像进行拟合运算,得到每个子像素的最终驱动值,输入子像素的最终驱动值驱动对应的子像素。
2.如权利要求1所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,所述步骤e)中的拟合运算是:
e1)将OLED显示器的每个子像素的校正与补偿值与每个像素的平面坐标进行存储,形成校正与补偿值矩阵;
e2) 将OLED显示器的每个子像素实际图像的子像素值与对应的补偿值进行加运算,得到每个子像素的最终驱动值。
3.如权利要求2所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,步骤b)中阈值电压、OLED中间电压是分别进行独立采样测量。
4.如权利要求3所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,对阈值电压和/或OLED中间电压进行多次采样后,取中间值为最终测量结果。
5.如权利要求4所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,步骤d)中每次计算后更新部分或全部OLED子像素的校正和补偿值。
6.如权利要求5所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,步骤a)采样的单位周期可以是变化的;随着OLED显示器使用时间增加,可以缩短或延长其采样周期。
7.如权利要求1-6任一权利要求所述的OLED显示器的自校验驱动方法,其特征在于,OLED显示器采样可以在开机期间和/或待机期间和/或关机期间进行。
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